2013-03-29Skaningowy mikroskop bliskich oddziaływań AFM/STM (Instytut Chemii Fizycznej PAN)
Dostawa, instalacja, uruchomienie, przeprowadzenie testu obrazowania powierzchni atomowo gładkiej (HOPG, mika) oraz dwuetapowe szkolenie w zakresie obsługi mikroskopu i oprogramowania, fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu bliskich oddziaływań AFM/STM pracującego w warunkach kontrolowanego środowiska gazu lub cieczy o parametrach technicznych wymienionych w specyfikacji istotnych warunków zamówienia.
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:Labsoft - Krzysztof Herman
2012-05-29Dostawa nanotwardościomierza, numer sprawy BW/17/2012 (Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru twardości oraz modułu Young’a cienkich, twardych powłok przeciwzużyciowych osadzanych metodami PVD i CVD, selektywnego pomiaru twardości poszczególnych faz w materiałach wielofazowych i kompozytowych, a także badania właściwości sprężysto-plastycznych cienkich warstw dyfuzyjnych oraz cienkich powłok. Szczegółowe wymagania w zakresie przedmiotu zamówienia zawiera specyfikacja istotnych warunków zamówienia.
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:Labsoft - Krzysztof Herman
2011-10-13Dostawa mikroskopu SPM (Scanning Probe Microscopy) (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Dostawa mikroskopu SPM (Scanning Probe Microscopy).
Wymagane parametry techniczne i eksploatacyjne mikroskopu SPM (Scanning Probe Microscopy):
Ogólne:
W pełni funkcjonalne stanowisko mikroskopu SPM, zawierające wszelkie elementy umożliwiające pracę w następujących trybach:
— mikroskopia sił atomowych (w trybie statycznym i z rezonansowo drgającą belką),
— obrazowanie fazowe,
— spektroskopia sił atomowych w funkcji odległości ostrze-powierzchnia,
— mikroskopia sił tarcia (lateralnych),
— mikroskopia sił …
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:Labsoft - Krzysztof Herman
2011-07-18Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) (Instytut Chemii Fizycznej PAN)
Dostawa, instalacja, uruchomienie i przetestowanie poprzez wykonanie testowych pomiarów próbek wzorcowych wskazanych przez Zamawiającego, fabrycznie nowego Wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM) ze zintegrowanym spektrometrem rentgenowskim EDS o parametrach technicznych wymienionych w specyfikacji. Parametry oferowanego systemu muszą być pisemnie zagwarantowane przez producenta, ew. europejską firmę będącą własnością producenta a nie tylko przez Dostawcę.
Szczegółowa specyfikacja …
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:Labsoft - Krzysztof Herman