Dostawa aparatury badawczej i pomiarowej dla Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach
Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowej aparatury badawczej i pomiarowej dla Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach zgodnie z opisem przedmiotu zamówienia stanowiącym załącznik nr 1 do SIWZ. W skład przedmiotu zamówienia wchodzą następujące części:
— część I - stanowisko do badania trwałości i parametrów użytkowych łożysk (stanowisko Nr 1),
— część II – stanowisko do badania statycznego i dynamicznego momentu oporowego w łożyskach (stanowisko Nr 2),
— część III – stanowisko do pomiaru, analizy i oceny poziomu drgań w łożyskach (stanowisko Nr 3),
— część IV – stanowisko do badania okrągłości i walcowości elementów łożysk tocznych, niedokładności obrotu oraz chropowatości i odchyłki profilu bieżni(stanowisko Nr 4).
Termin
Termin składania ofert wynosił 2011-04-08.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2011-02-25.
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2011-02-25
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|