Dostawa zestawu urządzeń pomiarowych do badania charakterystyk mikro i nanosensorów (wafer level) oraz charakteryzacji szumów - cz. 2 wraz z mikropozycjonerami, chłodziarką helową (z zamkniętym obiegiem helu) z wyposażeniem nisko- i wysoko-temperaturowym w ramach projektu Krajowe Centrum Nanostruktur Magnetycznych do Zastosowań w Elektronice Spinowej - SPINLAB
Dostawa zestawu urządzeń pomiarowych do badania charakterystyk mikro i nanosensorów (wafer level) oraz charakteryzacji szumów - cz. 2 wraz z mikropozycjonerami, chłodziarką helową (z zamkniętym obiegiem helu) z wyposażeniem nisko- i wysoko-temperaturowym w ramach projektu Krajowe Centrum Nanostruktur Magnetycznych do Zastosowań w Elektronice Spinowej - SPINLAB.Przedmiot zamówienia składa się z 3 podzespołów, które muszą współpracować ze sobą być zintegrowane i wzajemnie kompatybilne.
W skład zestawu wchodzi:
1. Stacja probiercza (probe station)
2. Chłodziarka helowa z wyposażeniem nisko - i wyskotemperaturowym
3. Mikropozycjonery - 4 sztuki
Termin
Termin składania ofert wynosił 2011-03-03.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2011-01-21.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Gdzie?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2011-01-21
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2011-06-27
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|