Dyfraktometr rentgenowski XRD
Dyfraktometr rentgenowski XRD do badań:
i) dyfraktometrycznych cienkich warstw epitaksjalnych i monokryształów w geometrii koplanarnej,
ii) dyfraktometrycznych w geometrii in-plane
iii) topografii (wysokorozdzielczej i średniorozdzielczej)
iv) reflektometrycznych
v) dyfraktometrycznych materiałów polikrystalicznych
Termin
Termin składania ofert wynosił 2011-03-07.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2011-01-18.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2011-01-18
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2011-03-28
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|