Dostawa dyfraktometru rentgenowskiego do charakteryzacji struktury krystalicznej cienkich warstw poli-, nano- i monokrystalicznych
Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie i testowanie fabrycznie nowego dyfraktometru rentgenowskiego do charakteryzacji struktury krystalicznej cienkich warstw poli-, nano- i monokrystalicznych.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2012-06-01.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2012-04-20.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2012-04-20
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2012-06-27
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|