Dostawa mikroskopu konfokalnego w ramach Projektu Centrum Nanotechnologii Politechniki Gdańskiej
1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja mikroskopu konfokalnego zwanego dalej „mikroskopem” oraz udzielenie licencji na oprogramowanie. Wszystkie elementy zestawu mają być fabrycznie nowe, wolne od wszelkich wad i nie mogą być przedmiotem praw osób trzecich.
Pomiarowy konfokalny mikroskop badawczy.
Możliwość obrazowania w trybie konfokalnym, jasnego pola, kontrastu interferencyjnego (DIC) oraz prostej polaryzacji.
Możliwość obserwacji próbki o wysokości do 100mm,
Obiektywy (powiększenie / WD – minimalna odległość robocza, NA – minimalna apertura numeryczna):
— Semi Plan Apochromatyczny 2,5x/ WD=10,5mm/ NA=0,08,
— Semi Plan Apochromatyczny 5x/ WD=20mm/ NA=0,15,
— Semi Plan Apochromatyczny 10x/ WD=11mm/ NA=0,30,
— Plan Apochromatyczny 20x/ WD=1,0mm/ NA=0,60 (dedykowany dla λ lasera),
— Plan Apochromatyczny 50x/ WD=0,35mm/ NA=0,95 (dedykowany dla λ lasera),
— Plan Apochromatyczny 100x/ WD=0,35mm/ NA=0,95 (dedykowany dla λ lasera).
Co najmniej 6-pozycyjny, zmotoryzowany uchwyt rewolwerowy,
Wkładka do obserwacji i zbierania obrazu w trybie kontrastu Nomarskiego zintegrowana z polaryzatorem,
Zoom optyczny co najmniej 8x,
Rozdzielczość w osi Z: nie gorsza niż 10nm,
Rozdzielczość w osi XY: nie gorsza niż 120nm,
Dokładność pomiarów nie gorsza niż. 1nm,
Rozdzielczość chropowatości nie gorsza niż 400nm,
Rozdzielczość obrazu mikroskopowego co najmniej 4000x4000 pikseli,
Odświeżanie obrazu dla trybu CCD co najmniej 25fps,
Odświeżanie obrazu dla trybu konfokalnego co najmniej 15fps,
Oświetlacz mikroskopowy LED, Biała dioda o długości fali 400-700nm i mocy co najmniej 30mW,
Długość fali lasera skanującego w zakresie 390-420nm,
Maksymalna moc lasera nie mniejsza 120mW,
Płynna regulacja mocy lasera,
Tor optyczny z zainstalowanymi co najmniej dwoma fotopowielaczami oraz dwoma szczelinami typu pin-hole o zmiennej średnicy. Podwójny zestaw pin-hole plus fotopowielacz umożliwia rozszerzenie dynamiki i czułości skanującego toru konfokalnego.
Stolik mikroskopowy z przesuwem piezoelektrycznym,
Zakres ruchu obiektywów podczas skanowania nie mniejsza 10mm (w osi Z),
Zakres ruchu stolika w osiach XY co najmniej 100mm,
Skanowanie płaszczyzn nachylonych pod kątem do 85 stopni,
Możliwość składania do 500 obrazów,
Wbudowany pasywny system antywibracyjny,
Dedykowany aktywny stół antywibracyjny wraz z biurkiem,
Stolik grzejny wraz z kontrolerem umożliwiający ogrzewanie próbki od temperatury otoczenia do 1000stC_[lub]__1200stC, szybkość grzania co najmniej 150stC/min, średnica próbki: co najmniej 17mm__[lub]__10mm. Dodatkowy zestaw trzech obiektywów długodystansowych klasy conajniej plan-fluoryotowej o minimalnych parametrach: powiększeniu/aperturze numerycznej/odległości roboczej: 20x/0,4/12mm; 50x/0,5/10,6mm; 100x/0,8/3,4mm (obiektyw 100x wraz z zewnętrznym systemem chłodzącym).
Stacja robocza o parametrach nie gorszych niż:
— dysk twardy 1,5 TB,
— procesor 3GHz,
— 4GB RAM,
— mysz, klawiatura.
Oprogramowanie:
— Wizualizacje powierzchni próbki w 2D i 3D,
— Skanowanie w trybie całkowicie automatycznym i manualnym,
— Tworzenie topografii powierzchni na komputerze w różnych trybach: kolorowy 2D i 3D, kolorowa mapa wysokości 2D i 3D, intensywność 2D i 3D,
— Pomiar odległości (odległość pomiędzy dwoma punktami) w płaszczyźnie XY i pomiar odległości / wysokości (odległość pomiędzy dwoma punktami na powierzchni 3D w osi Z),
— Pomiary geometryczne (krąg, prostokąt, kwadrat i inne kształty geometryczne i kąty) w płaszczyźnie XY i na powierzchni 3D,
— Pomiary chropowatości zgodny ze standardami ISO,
— Możliwość uzyskania statystycznych danych pomiarowych,
— Pomiary grubości warstw przezroczystych lub półprzezroczystych od 800 nm,
— Analiza cząstek (powierzchnia, objętość, punkt ciężkości, etc. dla każdej poszczególnej cząsteczki; całkowita ilość wszystkich cząsteczek, całkowita powierzchnia i stosunki powierzchni),
— Detekcji krawędzi obiektu, pomiary struktur periodycznych,
— Możliwość tworzenia raportu pomiarowego zawierającego dane pomiarowe i obrazy topografii powierzchni 2D i 3D,
— Eksport wyników pomiarowych w formacie csv, sdf oraz programów CAD,
— Eksport obrazów mikroskopowych w formatach: bmp, JPG, TIFF.
Minimalna gwarantowana przez producenta powtarzalność pomiarów XY dla obiektywów:
— 20x: 3ς = 0.1 μm,
— 50x: 3ς = 0.04 μm,
— 100x: 3ς = 0.02 μm.
Minimalna gwarantowana przez producenta powtarzalność pomiarów Z dla obiektywów:
— 20x: ς = 0.04 μm,
— 50x: ς = 0.012 μm,
— 100x: ς = 0.012 μm.
Gwarancja: 12 miesiące.
Dostawa w terminie: do 12 tygodni.
Parametry kluczowe zaznaczono powtórnie poniżej:
Możliwość obserwacji próbki o wysokości do 100mm,
Rozdzielczość w osi XY: nie gorsza niż 120nm,
Rozdzielczość obrazu mikroskopowego co najmniej 4000x4000 pikseli,
Maksymalna moc lasera skanującego nie mniejsza 120mW,
Tor optyczny z zainstalowanymi co najmniej dwoma fotopowielaczami oraz dwoma szczelinami typu pin-hole o zmiennej średnicy. Podwójny zestaw pin-hole plus fotopowielacz umożliwia rozszerzenie dynamiki i czułości skanującego toru konfokalnego.
Skanowanie płaszczyzn nachylonych pod kątem do 85 stopni,
Możliwość składania do 500 obrazów,
Stolik grzejny wraz z kontrolerem umożliwiający ogrzewanie próbki od temperatury otoczenia do 1000stC_[lub]__1200stC, szybkość grzania co najmniej 150stC/min, średnica próbki: co najmniej 17mm__[lub]__10mm. Dodatkowy zestaw trzech obiektywów długodystansowych klasy conajniej plan-fluoryotowej o minimalnych parametrach: powiększeniu/aperturze numerycznej/odległości roboczej: 20x/0,4/12mm; 50x/0,5/10,6mm; 100x/0,8/3,4mm (obiektyw 100x wraz z zewnętrznym systemem chłodzącym).
Minimalna gwarantowana przez producenta powtarzalność pomiarów XY dla obiektywów:
— 20x: 3ς = 0.1 μm,
— 50x: 3ς = 0.04 μm,
— 100x: 3ς = 0.02 μm.
Minimalna gwarantowana przez producenta powtarzalność pomiarów Z dla obiektywów:
— 20x: ς = 0.04 μm,
— 50x: ς = 0.012 μm,
— 100x: ς = 0.012 μm.
Zamawiający bezwzględnie wymaga aby oferowany mikroskop posiadał wszystkie funkcje, właściwości oraz parametry opisane w pkt 1.
2. Licencja na oprogramowanie niezbędne do prawidłowej obsługi mikroskopu była udzielona na warunkach wskazanych przez Wykonawcę z zastrzeżeniem, że Zamawiający wymaga aby obejmowała prawo do korzystania przez czas nieokreślony, oraz była nieograniczona terytorialnie. Dodatkowe wymagania zawarte są w § 5 wzoru umowy będącym załącznikiem nr 5 do SIWZ. Warunki licencji opisane przez Wykonawcę zawarte w ofercie będą załącznikiem do umowy zawartej z Wykonawcą na zrealizowanie przedmiotowej dostawy.
3. Dostawa ma odbyć się w miejsce wskazane przez pracownika Zamawiającego w Centrum Nanotechnologii Politechniki Gdańskiej, G. Narutowicza 11/12 wraz z instalacją i szkoleniem instruktażowym (dla minimum trzech pracowników Zamawiającego).
4. Warunki dostawy:
Wykonawca zobowiązany jest do pisemnego powiadomienia pracownika Zamawiającego wskazanego w umowie – załącznik nr 5 do SIWZ na minimum 7 dni przed planowaną dostawą, w przeciwnym wypadku Zamawiający będzie uprawniony do odmowy przyjęcia dostawy.
W przypadku gdyby dostawa odbyła się za pośrednictwem osób trzecich np. firmy kurierskiej a instalacja i szkolenie miałaby rozpocząć się w innym terminie Zamawiający bezwzględnie wymaga aby przedmiotowe czynności odbyły się nie później niż w terminie 14 dni od dnia dostawy. Po przekroczeniu terminów: realizacji zamówienia, instalacji lub szkolenia „Cena wskazana w umowie” zostanie pomniejszona o kary umowne, które zawarte są we wzorze umowy będącym załącznikiem nr 5 do SIWZ.
Dostawa zostanie uznana za zrealizowaną w momencie podpisania protokołu odbioru bez zastrzeżeń przez przedstawiciela Wykonawcy i Zamawiającego.
W przypadku stwierdzenia niezgodności dostarczanego mikroskopu Zamawiający odmówi odbioru.
W przypadku zaistnienia wyżej wymienionej sytuacji naliczona zostanie kara umowna – szczegółowe informacje dotyczące warunków odbioru i szkolenia zawarte są we wzorze umowy będącym załącznikiem nr 5 do SIWZ.
5. Wykonawca zapewnia minimum 12 miesięczną gwarancję – szczegółowe informacje zawarte są w załączniku nr 5 do SIWZ- wzorze umowy.
6. Nie dopuszcza się składania ofert wariantowych.
Nie dopuszcza się składania ofert częściowych.
7. Kod CPV:
38 00 00 00 Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego)
80 51 00 00-2 Usługi szkolenia specjalistycznego.
48 00 00 00-0 Pakiety oprogramowanie i systemy informatyczne.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2012-11-08.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2012-09-28.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Gdzie?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2012-09-28
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2012-11-05
|
Dodatkowe informacje
|
| 2013-03-01
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|