Dostawa zintegrowanego stanowiska do pomiaru struktur półprzewodnikowych na płytkach składającego się z systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V, półautomatycznego probera do pomiarów ostrzowych i systemu komputerowego
Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie i testowanie fabrycznie nowego zintegrowanego stanowiska do pomiaru struktur półprzewodnikowych na płytkach składającego się z systemu do pomiaru charakterystyk I-V i C-V, półautomatycznego probera do pomiarów ostrzowych i systemu komputerowego.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2012-04-26.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2012-03-16.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2012-03-16
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2012-03-30
|
Dodatkowe informacje
|
| 2012-04-13
|
Dodatkowe informacje
|
| 2012-05-28
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|