Skaningowy mikroskop elektronowy z podwójną wiązką elektronowo-jonową (dual-beam)
Dostawa wraz z montażem, uruchomieniem i przeszkoleniem personelu, następującej aparatury naukowo – badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej:
Skaningowy mikroskop elektronowy z podwójną wiązką elektronowo-jonową (dual-beam), kompatybilny do pracy z próbkami biologicznymi zamrożonymi pod wysokim ciśnieniem, ze zintegrowanym działem jonowym typu zogniskowanej wiązki jonowej do technik abrazyjnych, pozostającym w układzie dual-beam ze źródłem elektronów typu emisji polowej, z działem elektronowym z termiczną emisją polową FE z katody Schott-ky’go.
Skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową FE-SEM, przeznaczony do obrazowania w zakresie wysokich rozdzieczości, wysokich i niskich napięć, posiadający optymalne parametry dla zastosowań analitycz-nych. Platforma mikroskopu może zostać rozbudowana o zastosowania w ramach trójwymiarowego obrazo-wania i analizy zarówno materiałów przewodzących, jak i nieprzewodzących, poprzez dodanie różnych ele-mentów, jak system iniekcji gazów (GIS), selektywny detektor elektronów wstecznie rozproszonych (EsB), system kompensacji ładunku (CC).
Termin
Termin składania ofert wynosił 2012-07-05.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2012-05-22.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Gdzie?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2012-05-22
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2012-07-09
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|