Część 1 – dostawa zestawu do określania właściwości tworzyw sztucznych; Część 2 – dostawa aparatu do pomiaru wielkości cząstek koloidalnych i stabilności elektrokinetycznej; Część 3 – dostawa laserowego analizatora wielkości cząstek mikrometrycznych; Część 4 – dostawa laboratoryjnej suszarki rozpyłowej (układy wodne i organiczne) dla cząstek nanometrycznych

Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu

Część 1 – dostawa zestawu do określania właściwości tworzyw sztucznych, złożony z następujących elementów:
1.Aparat do testów temperatury ugięcia (HDT) oraz mięknienia (Vicat);
2.Reometr kapilarny;
3.Plastometr do pomiarów wskaźnika szybkości płynięcia;
4.Młot wahadłowy o maksymalnej energii 25J;
5.Maszyna wytrzymałościowa o maksymalnej obciążalności +/- 50kN;
6.Zestaw do przygotowywania próbek;
7.Zestaw do badania twardości.
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia został zawarty w załączniku nr 3 do niniejszej SIWZ.
Część 2 – dostawa aparatu do pomiaru wielkości cząstek koloidalnych i stabilności elektrokinetycznej. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia został zawarty w załączniku nr 3 do niniejszej SIWZ.
Część 3 – dostawa laserowego analizatora wielkości cząstek mikrometrycznych. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia został zawarty w załączniku nr 3 do niniejszej SIWZ.
Część 4 – dostawa laboratoryjnej suszarki rozpyłowej (układy wodne i organiczne) dla cząstek nanometrycznych. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia został zawarty w załączniku nr 3 do niniejszej SIWZ.
Zamawiający dopuszcza składanie ofert częściowych. Części nie mogą być dzielone przez Wykonawców, oferty nie zawierające pełnego zakresu przedmiotu zamówienia określonego w zadaniu częściowym zostaną odrzucone. Każdy z Wykonawców może złożyć ofertę na wybraną przez siebie ilość części zamówienia.
Zamawiający dopuszcza składanie ofert równoważnych.
Dostarczone przedmioty zamówienia muszą być fabrycznie nowe, tzn. nie używane przed dniem dostawy oraz nie pokazywane na konferencjach i imprezach targowych, ani używane w podobny sposób.
Zamawiający nie dopuszcza składania ofert wariantowych.
Zamawiający nie przewiduje dokonania wyboru oferty najkorzystniejszej z zastosowaniem aukcji elektronicznej.
Zamawiający nie przewiduje udzielenia zamówień uzupełniających, o których mowa w art. 67 ust. 1 pkt. 6 i 7 Pzp.
Termin realizacji zamówienia:
Część 1 - do 4 miesięcy od daty zawarcia umowy i dla komputerów stacjonarnych oraz monitorów (z pakietu 1, 2, 3 i 5 załącznik nr 3 do SIWZ) otrzymania przez Wykonawcę zamówienia wraz z potwierdzeniem wydanym przez właściwy organ nadzorujący Zamawiającego zgodnie z art. 83 ust. 14 pkt 1 w związku z art. 83 ust. 1 pkt 26 lit. a) ustawy z dnia 11 marca 2004 r. o podatku od towarów i usług (Dz. U. z 2004 r. Nr 54, poz. 535 z późn. zm.).
Część 2 - do 8 tygodni od daty zawarcia umowy i dla komputera stacjonarnego, monitora oraz drukarki (załącznik nr 3 do SIWZ) otrzymania przez Wykonawcę zamówienia wraz z potwierdzeniem wydanym przez właściwy organ nadzorujący Zamawiającego zgodnie z art. 83 ust. 14 pkt 1 w związku z art. 83 ust. 1 pkt 26 lit. a) ustawy z dnia 11 marca 2004 r. o podatku od towarów i usług (Dz. U. z 2004 r. Nr 54, poz. 535 z późn. zm.).
Część 3 - do 6 tygodni od daty zawarcia umowy i dla komputera stacjonarnego oraz monitora (załącznik nr 3 do SIWZ) otrzymania przez Wykonawcę zamówienia wraz z potwierdzeniem wydanym przez właściwy organ nadzorujący Zamawiającego zgodnie z art. 83 ust. 14 pkt 1 w związku z art. 83 ust. 1 pkt 26 lit. a) ustawy z dnia 11 marca 2004 r. o podatku od towarów i usług (Dz. U. z 2004 r. Nr 54, poz. 535 z późn. zm.).
Część 4 - do 2 miesięcy od daty zawarcia umowy.

Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-07-31. Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-06-21.

Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:

• • A.P. Instruments Sp. z o. o. Sp. k.
• • Wojciech Kaca Donserv

Kto?

• • Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu

Co?

• • Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) › Aparatura kontrolna i badawcza