Dostawa dwóch urządzeń do kopiowania i wykonywania replik mikro- i nanostruktur w procesach nanoimprintu wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Przedmiotem niniejszego zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie do siedziby zamawiającego, montaż, zainstalowanie, uruchomienie oraz przeprowadzenie testów odbiorczych) dwóch kompletnych, fabrycznie nowych urządzeń do kopiowania i wykonywania replik mikro- i nanostruktur w procesach nanoimprintu, to jest:
1) urządzenia do centrowania i kopiowania (wykonywania replik) mikro- i nanostruktur w procesach nanoimprintu z wykorzystaniem promieniowania UV (Semi-automated Double Side Nano Imprint Lithography System, dalej nazywanego w skrócie „UV NIL”), do centrowania i kopiowania masek chromowych w standardowych procesach fotolitograficznych (Mask Alignment Lithography) oraz centrowania optycznego podłoży przeznaczonych do obróbki w procesach tłoczenia na gorąco (hot embossing) lub łączenia podłoży (wafer bonding),
2) urządzenia do kopiowania (wykonywania replik) mikro- i nanostruktur w procesach tłoczenia na gorąco (Hot Embossing Nano Imprint Lithography System, dalej nazywanego w skrócie „HE NIL”) z funkcją kopiowania wzorów na podłożach wycentrowanych optycznie względem stempla,
o parametrach zgodnych (lub lepszych) z określonymi odpowiednio w Tabeli 1 (UV NIL) i Tabeli 2 (HE NIL) załącznika nr 1 do niniejszej specyfikacji istotnych warunków zamówienia pt. „Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia”.
Oba urządzenia muszą być ze sobą kompatybilne w zakresie wyposażenia umożliwiającego precyzyjne optyczne centrowanie wzorców (masek lub stempli) i podłoży wykorzystywanych do wytwarzania struktur w procesach UV NIL, jak i w procesach HE NIL.
Podstawowe funkcje systemu UV NIL obejmować muszą:
— kopiowanie struktur w procesach nanoimprintu z wykorzystaniem promieniowania UV (UV Nano Imprint Lithography),
— kopiowanie masek chromowych w standardowych procesach fotolitografii (Mask Alignment Lithography) w różnych trybach pracy: kopiowanie z kontrolowanym odstępem (proximity), kopiowanie w ‘miękkim' kontakcie (soft contact) z regulowaną siłą docisku, kopiowanie stykowe z siłą docisku regulowaną ciśnieniem gazu roboczego (hard contact), kopiowanie stykowe z siłą docisku regulowaną poziomem próżni (vacuum contact), oraz kombinacja obu powyższych trybów (hard+vacuum contact),
— jednostronne i dwustronne centrowanie optyczne dla wymienionych powyżej procesów,
— centrowanie optyczne wzorca (stempla) do podłoży (w tym układu kilku podłoży) przeznaczonych do dalszej obróbki w procesach tłoczenia na gorąco (uchwyty i wyposażenie kompatybilne z urządzeniem Hot Embossing Nano Imprint Lithography),
— programowanie, sterowanie i kontrolę procesów kopiowania oraz diagnostykę urządzenia poprzez graficzny interfejs użytkownika.
Podstawowe funkcje systemu HE NIL obejmować muszą:
— wytwarzanie mikro- i nanostruktur w jednolitych materiałach (podłoża polimerowe lub ze szkieł niskotopliwych) w procesie tłoczenia na gorąco (hot embossing),
— wytwarzanie mikro- i nanostruktur w procesie kopiowania termicznego (thermal imprinting) w warstwach polimerów naniesionych na podłoża,
— prowadzenie procesów HE NIL w próżni i przy zwiększonym ciśnieniu,
— programowanie i kontrolę temperatury grzania stempla i podłoża w zakresie do co najmniej 550 st. C,
— programowanie i kontrolę siły docisku stempla w zakresie do co najmniej 10 kN,
— automatyczne rozłączenie stempla od wytworzonego wzoru (deembossing) wewnątrz komory roboczej,
— programowanie, sterowanie i kontrolę procesów kopiowania oraz diagnostykę urządzenia poprzez graficzny interfejs użytkownika.
Konfiguracja systemu HE NIL umożliwiać ma wykonywanie procesów dla elementów wcześniej wycentrowanych optycznie w systemie UV NIL, a także pozwalać na możliwość rozbudowy o moduły umożliwiające łączenie podłoży (wafer bonding).
Zamówienie obejmuje również przeszkolenie pracowników Zamawiającego w zakresie technologii, obsługi i utrzymania technicznego urządzenia oraz stosowania procesów kopiowania.
Oferowane systemy mają być sprawdzonymi, znanymi na rynku urządzeniami. Wykonawca jednoznacznie określi oferowane urządzenia poprzez podanie producenta/marki oraz nazwy typu/modelu w składanej ofercie.
Termin składania ofert wynosił 2013-07-05. Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-05-24.
DostawcyNastępujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto? Co? Gdzie?| Data | Dokument |
|---|---|
| 2013-05-24 | Ogłoszenie o zamówieniu |
| 2013-09-03 | Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia |
Obiekt
Zakres zamówienia
Tytuł: Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego)
Wielkość lub zakres:
Metadane ogłoszenia
Język oryginału: polski 🗣️
Typ dokumentu: Ogłoszenie o zamówieniu
Rodzaj zamówienia: Dostawy
Regulacja: Unia Europejska
Wspólny słownik zamówień (CPV)
Kod: Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) 📦
Procedura
Typ procedury: Procedura otwarta
Typ oferty: Wniosek dotyczący wszystkich partii
Kryteria przyznawania nagród
Najniższa cena
Instytucja zamawiająca
Tożsamość
Kraj: Polska 🇵🇱
Typ instytucji zamawiającej: Inne
Nazwa instytucji zamawiającej: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Adres pocztowy: Wólczyńska 133
Kod pocztowy: 01-919
Miasto pocztowe: Warszawa
Kontakt
Adres internetowy: http://www.itme.edu.pl 🌏
E-mail: slawomir.strelau@itme.edu.pl 📧
Telefon: +48 228353536 📞
Fax: +48 228349220 📠
Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2013-05-24 📅
Termin składania ofert: 2013-07-05 📅
Data publikacji: 2013-05-29 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2013/S 102-174150
Numer Dz.U.-S: 102
Obiekt
Zakres zamówienia
Krótki opis:
Numer referencyjny: ZP/012/2013
Nazwa projektu lub programu finansowanego przez UE:
Główne miejsce lub miejsce wykonywania działalności: Ul. Wólczyńska 133, 01-919 Warszawa.
Informacje prawne, ekonomiczne, finansowe i techniczne
Warunki uczestnictwa
Zdolność do prowadzenia działalności zawodowej:
Minimalny poziom(y) standardów: Określono w punkcie III.2.1).
Zdolności techniczne i zawodowe:
Wymagane depozyty i gwarancje:
Procedura
Okres ważności oferty: 60 dni
Data otwarcia ofert: 2013-07-05 📅
Miejsce otwarcia: Warszawa, ul. Wólczyńska 133.
Miejsce: Warszawa, ul. Wólczyńska 133.
Języki
Język: polski 🗣️
Instytucja zamawiająca
Tożsamość
Inny rodzaj instytucji zamawiającej: Other
Kontakt
Punkt kontaktowy: Sławomir Strelau
Odniesienie
Identyfikatory
Numer referencyjny nadany przez instytucję zamawiającą: ZP/012/2013
Informacje uzupełniające
Organ kontrolny
Nazwa: Urząd Zamówień Publicznych
Adres pocztowy: Postęu 17A
Miasto pocztowe: Warszawa
Kod pocztowy: 02-676
Kraj: Polska 🇵🇱
Telefon: +48 224587706 📞
Adres internetowy: http://www.uzp.gov.pl 🌏
Fax: +48 224587700 📠
Informacje o terminach składania odwołań:
Tak samo jak: Organ kontrolny
Źródło: OJS 2013/S 102-174150 (2013-05-24)
Obiekt
Zakres zamówienia
Całkowita wartość zamówienia: 466 000 💰
Metadane ogłoszenia
Typ dokumentu: Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
Procedura
Typ oferty: Nie dotyczy
Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2013-09-03 📅
Data publikacji: 2013-09-04 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2013/S 171-295911
Odnosi się do ogłoszenia: 2013/S 102-174150
Numer Dz.U.-S: 171
Obiekt
Miejsce wykonania
Główne miejsce lub miejsce wykonywania działalności: Ul. Wólczyńska 133, 01-919 Warszawa, Polska.
Udzielenie zamówienia
Data zawarcia umowy: 2013-08-12 📅
Nazwa: EV Group Europe & Asia/Pacific GmbH
Adres pocztowy: Dl Erich Thallner Str. 1
Miasto pocztowe: St. Florian am Inn
Kod pocztowy: 4782
Kraj: Austria 🇦🇹
Informacje o przetargach
Liczba otrzymanych ofert: 1
Informacje uzupełniające
Organ kontrolny
Adres pocztowy: Postęu 17 A
Źródło: OJS 2013/S 171-295911 (2013-09-03)
- Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) (>20 nowe zamówienia)
- Aparatura kontrolna i badawcza (>20)
- Liczniki czasu i tym podobne; parkometry (2)
- Przyrządy do badania właściwości fizycznych (>20)
- Przyrządy do pomiaru (11)
- Przyrządy geologiczne i geofizyczne (1)
- Przyrządy nawigacyjne i meteorologiczne (3)
- Przyrządy optyczne (19)
- Różne przyrządy do badań lub testowania (9)
- Urządzenia sterujące procesem przemysłowym i urządzenia do zdalnego sterowania (1)