Dostawa i instalacja aparatury naukowo-badawczej dla „Laboratorium wytwarzania i badania nanostruktur za pomocą zogniskowanych wiązek jonów i elektronów” - fabrycznie nowego urządzenia do wytwarzania i badania nanostruktur za pomocą zogniskowanych wiązek jonów i elektronów (FIB/SEM).- AC/BZP/95/2013
1.1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja aparatury naukowo-badawczej dla „Laboratorium wytwarzania i badania nanostruktur za pomocą zogniskowanych wiązek jonów i elektronów” - fabrycznie nowego urządzenia do wytwarzania i badania nanostruktur za pomocą zogniskowanych wiązek jonów i elektronów (FIB/SEM).
1.2. Przedmiotem zamówienia jest dostawa, montaż i uruchomienie fabrycznie nowego urządzenia do wytwarzania i badania nanostruktur za pomocą zogniskowanych wiązek jonów i elektronów (FIB/SEM) składającego się z następujących modułów:
- mikroskop FIB/SEM
- zestaw dodatkowych modułów oraz urządzeń pomocniczych:
- rentgenowski spektrometr (mikroanalizator) EDS;
- napylarka wysokopróżniowa do nanoszenie cienkich powłok warstw przewodzących węgla i metali szlachetnych, na powierzchnię preparatów nieprzewodzących, przeznaczonych do badania w mikroskopach elektronowych;
- zestaw specjalistycznych mikromanipulatorów do badania i wytwarzania układów MEMS/NEMS;
- analizator impedancji mechanicznej i elektrycznej układów MEMS/NEMS wytwarzanych i badanych wiązkami jonów i elektronów;
- system do wzbudzania i pomiaru częstotliwości drgań wytwarzanych i badanych za pomocą wiązek jonów i elektronów układów MEMS/NEMS;
- moduł sterowania i akwizycji danych dla czujników bliskiego pola typu MEMS/NEMS wytwarzanych i badanych wiązkami elektronów i jonów o następującej konfiguracji;
- pomocniczy mikroskop do obserwacji i diagnostyki układów MEMS i NEMS wytwarzanych i badanych wiązkami elektronów i jonów w jasnym polu i kontraście Nomarskiego w świetle odbitym.
Wymienione urządzenia będą stanowiły wyposażenie „Laboratorium wytwarzania i badania nanostruktur za pomocą zogniskowanych wiązek jonów i elektronów”, oraz korzystały ze wspólnego oprogramowania do archiwizacji i obróbki danych pomiarowych i z tego względu muszą być ze sobą kompatybilne.
1.3. Zamówienie obejmuje także przeszkolenie pracowników Zamawiającego w miejscu instalacji aparatury.
CPV: 38500000-0 - aparatura kontrolna i badawcza;
1.3. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się w Załączniku nr 5 do SIWZ.
1.4. Szczegółowy zakres wykonania przedmiotu zamówienia znajduje się we wzorze umowy, stanowiącym Załącznik nr 4 do SIWZ.
1.5. Termin realizacji zamówienia wynosi: do 18 tygodni od podpisania umowy.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-07-09.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-05-28.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Gdzie?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2013-05-28
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2013-07-24
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|