Dostawa laboratoryjnego stanowiska do charakteryzacji układów PIC (Photonic Integrated Circuits)

Politechnika Warszawska

Przedmiotem zamówienia jest: dostawa laboratoryjnego stanowiska do charakteryzacji układów PIC (Photonic Integrated Circuits), wraz z montażem, integracją wszystkich dostarczonych elementów oraz instruktażu stanowiskowego dla co najmniej 5 osób z funkcjonowania wszystkich elementów składowych oraz całości zintegrowanego dla projektu Fotonika i Technologie Terahercowe – Rozwój Wydziałowego Centrum Badawczego
Charakteryzacja stanowiska
Laboratoryjne stanowisko do charakteryzacji układów PIC (Photonic Integrated Circuits), planowane do zakupu w ramach projektu Fotonika i Technologie Terahercowe – Rozwój Wydziałowego Centrum Badawczego stanowi unikatową aparaturę pomiarową przeznaczoną do badań układów fotoniki scalonej. Układy takie, wykonywane w technologiach półprzewodnikowych i integrujące na pojedynczym chipie nadajniki laserowe, modulatory, wzmacniacze, multipleksery, filtry, detektory, etc. połączone kanałami światłowodowymi są fotonicznym odpowiednikiem klasycznych elektronicznych układów scalonych.
Zaprojektowane stanowisko obejmuje precyzyjne nanopozycjonery, układy wprowadzania promieniowania, sondy optyczne i elektryczne oraz zestaw układów zasilających, stabilizujących temperaturę jak również podstawowe oprzyrządowanie pomiarowego do badań właściwości optycznych, ramy do różnych wkładek pomiarowych, mierniki elektryczne, mierniki mocy optycznej, źródła światła, tłumiki, modulatory, źródła sygnałów elektrycznych oraz wszelkie niezbędne elementy połączeniowe i opto-mechaniczne. Całość powinna znajdować się pod tzw. komorą laminarną, pozwalającą na lokalne zwiększenie klasy czystości w obrębie stanowiska.
Wymagania dotyczące przedmiotu zamówienia:
- Przedmiot zamówienia, musi być fabrycznie nowy, wolny od wad materiałowych i prawnych.
- Przedmiot zamówienia powinien być oznakowany w taki sposób, aby możliwa była identyfikacja zarówno produktu jak i producenta.
- Dostarczony zestaw musi zawierać wszystkie niezbędne elementy umożliwiające rozpoczęcie pracy takie jak oprogramowanie, sterowniki, kable, itp.
- Przedmiot zamówienia musi spełniać wymagania wynikające z przepisów bezpieczeństwa i higieny pracy oraz wymagania i normy określone w opisach technicznych.
- Ilekroć w niniejszej specyfikacji przedmiot zamówienia jest opisany ze wskazaniem znaków towarowych, patentów lub pochodzenia, to przyjmuje się, że wskazaniom takim towarzyszą wyrazy "lub równoważne".
- Wszelkie wymagania techniczne dotyczące przedmiotu zamówienia należy traktować jako graniczne, brak możliwości spełnienia przez proponowaną aparaturę lub oprogramowanie któregokolwiek z wymienionych parametrów wyklucza je z dalszej oceny.
- Wykonawca dokona instruktażu stanowiskowego dla co najmniej pięciu wskazanych przez Zamawiającego osobach
- Wykonawca ma obowiązek dokonać montażu, z uwzględnieniem integracji wszystkich dostarczonych elementów wchodzących w skład stanowiska charakteryzacji układów PIC (Photonic Integrated Circuits)
- Zamawiający informuje że przewiduje możliwość udzielenia zaliczki w wysokości nieprzekraczającej 40 % wartości przedmiotu zamówienia.
- Zamawiający dopuszcza odrębną (częściową) dostawę elementów wchodzących w skład stanowiska charakteryzacji układów PIC (Photonic Integrated Circuits) z zastrzeżeniem dochowania terminu ostatecznego realizacji umowy wskazanego w SIWZ.
Miejsce dostawy dla przedmiotu postępowania:
Przedmiot zamówienia powinien być dostarczony do siedziby Zamawiającego tj.: Politechnika Warszawska, Wydz. Elektroniki i Technik Informacyjnych , Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 00-662 Warszawa, ul. Koszykowa 75, pokój 032.

Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-11-21. Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-10-10.

Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:

• • „INTERLAB” Sp. z o.o.

Kto?

• • Politechnika Warszawska

Co?

• • Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) › Aparatura kontrolna i badawcza