Dostawa obrazującego elipsometru spektralnego do pomiaru warstw grafenowych wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Przedmiotem zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie do siedziby zamawiającego, montaż, zainstalowanie, uruchomienie oraz przetestowanie) kompletnego, fabrycznie nowego, obrazującego elipsometru spektralnego do pomiaru warstw grafenowych osadzanych na podłożach SiC, SiO2, metalicznych wraz z wyposażeniem. Szczegółowe parametry techniczne urządzenia stanowiącego przedmiot niniejszego zamówienia określa załącznik nr 1 do specyfikacji istotnych warunków zamówienia pt. „Szczegółowa charakterystyka przedmiotu zamówienia”. Zmówienie obejmuje również przeszkolenie wskazanych pracowników Zamawiającego w zakresie obsługi zamawianych urządzeń.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-06-07.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-04-25.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2013-04-25
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2013-09-03
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|