Dostawa układu do kompleksowej charakteryzacji prototypowych struktur półprzewodnikowych
Przedmiotem zamówienia jest dostawa układu do kompleksowej charakteryzacji prototypowych struktur półprzewodnikowych, zwanego dalej „aparaturą”.
Szczegółowo przedmiot zamówienia określony został w załączniku nr 1 do SIWZ.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-07-09.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-05-29.
Kto?
Co?
Gdzie?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2013-05-29
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2013-07-12
|
Dodatkowe informacje
|