Dostawa wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Przedmiotem zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie do siedziby zamawiającego, montaż, zainstalowanie oraz uruchomienie) kompletnego, fabrycznie nowego wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem. Urządzenie ma służyć do pomiarów krzywych odbić i mapowania wybranych rejonów przestrzeni odwrotnej, pomiarów dyfrakcyjnych w geometrii poślizgowej (GID), pomiarów dyfrakcyjnych wykorzystujących skanowanie 2θ przy ustalonym kącie padania tuż poniżej kąta krytycznego (GIXRD), pomiarów reflektometrycznych (XRR) oraz niskokątowego rozpraszania promieni rentgenowskich (SAXS) dla: monokryształów, cienkich i ultacienkich warstw epitaksjalnych, a także złożonych heterostruktur i supersieci. Urządzenie powinno również umożliwiać ilościową i jakościową analizę fazową materiałów polikrystalicznych. Zmówienie obejmuje również przeszkolenie wskazanych pracowników Zamawiającego w zakresie obsługi zamawianych urządzeń.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-04-29.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-03-15.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2013-03-15
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2013-03-21
|
Dodatkowe informacje
|
| 2013-05-28
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|