Dostawa wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Przedmiotem zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie do siedziby zamawiającego, montaż, zainstalowanie oraz uruchomienie) kompletnego, fabrycznie nowego wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego wraz z wyposażeniem. Urządzenie ma służyć do pomiarów krzywych odbić i mapowania wybranych rejonów przestrzeni odwrotnej, pomiarów dyfrakcyjnych w geometrii poślizgowej (GID), pomiarów dyfrakcyjnych wykorzystujących skanowanie 2θ przy ustalonym kącie padania tuż poniżej kąta krytycznego (GIXRD), pomiarów reflektometrycznych (XRR) oraz niskokątowego rozpraszania promieni rentgenowskich (SAXS) dla: monokryształów, cienkich i ultacienkich warstw epitaksjalnych, a także złożonych heterostruktur i supersieci. Urządzenie powinno również umożliwiać ilościową i jakościową analizę fazową materiałów polikrystalicznych. Zmówienie obejmuje również przeszkolenie wskazanych pracowników Zamawiającego w zakresie obsługi zamawianych urządzeń.

Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-04-29. Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-03-15.

Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?

Co?

Historia zamówień
Data Dokument
2013-03-15 Ogłoszenie o zamówieniu
2013-03-21 Dodatkowe informacje
2013-05-28 Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
Ogłoszenie o zamówieniu (2013-03-15)
Obiekt
Zakres zamówienia
Tytuł: Aparatura kontrolna i badawcza
Wielkość lub zakres:
“3 300 000,00”
Całkowita wartość zamówienia: 3 300 000,00 💰
Metadane ogłoszenia
Język oryginału: polski 🗣️
Typ dokumentu: Ogłoszenie o zamówieniu
Rodzaj zamówienia: Dostawy
Regulacja: Unia Europejska
Wspólny słownik zamówień (CPV)
Kod: Aparatura kontrolna i badawcza 📦

Procedura
Typ procedury: Procedura otwarta
Typ oferty: Wniosek dotyczący wszystkich partii
Kryteria przyznawania nagród
Oferta najbardziej korzystna ekonomicznie

Instytucja zamawiająca
Tożsamość
Kraj: Polska 🇵🇱
Typ instytucji zamawiającej: Inne
Nazwa instytucji zamawiającej: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Adres pocztowy: Wólczyńska 133
Kod pocztowy: 01-919
Miasto pocztowe: Warszawa
Kontakt
Adres internetowy: http://www.itme.edu.pl 🌏
E-mail: slawomir.strelau@itme.edu.pl 📧
Telefon: +48 228353536 📞
Fax: +48 228349220 📠

Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2013-03-15 📅
Termin składania ofert: 2013-04-29 📅
Data publikacji: 2013-03-19 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2013/S 055-090362
Numer Dz.U.-S: 55
Źródło: OJS 2013/S 055-090362 (2013-03-15)
Dodatkowe informacje (2013-03-21)
Obiekt
Metadane ogłoszenia
Typ dokumentu: Dodatkowe informacje

Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2013-03-21 📅
Data publikacji: 2013-03-26 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2013/S 060-098348
Odnosi się do ogłoszenia: 2013/S 55-090362
Numer Dz.U.-S: 60
Źródło: OJS 2013/S 060-098348 (2013-03-21)
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia (2013-05-28)
Obiekt
Zakres zamówienia
Całkowita wartość zamówienia: 3 285 628 💰
Metadane ogłoszenia
Typ dokumentu: Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia

Procedura
Typ oferty: Nie dotyczy

Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2013-05-28 📅
Data publikacji: 2013-05-29 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2013/S 102-174300
Numer Dz.U.-S: 102
Źródło: OJS 2013/S 102-174300 (2013-05-28)
Nowe zamówienia w powiązanych kategoriach 🆕
Powiązane wyszukiwania 🔍
Produkty/usługi: Sprzęt laboratoryjny, optyczny... Aparatura kontrolna i badawcza