ŁRPN-T/ ZP – 4/2013/PN - Przetarg nieograniczony na udzielenie zamówienia publicznego na dostawę i montaż Mikroskopu Sił Atomowych (ATM) zintegrowanego ze Spektrometrem Ramanowskim dla Pracowni Biochemii w Laboratorium Biofizyki Molekularnej i Nanostrukturalnej

Wielkość lub zakres

Przedmiotem niniejszego zamówienia jest dostawa i montaż Mikroskopu Sił Atomowych (ATM) zintegrowanego ze Spektrometrem Ramanowskim dla Pracowni Biochemii w Laboratorium Biofizyki Molekularnej i Nanostrukturalnej.Urządzenia muszą być produkowane zgodnie ze standardami ISO 9000 oraz posiadać certyfikaty bezpieczeństwa CE.Wykonawca dostarczy Zamawiającemu instrukcje obsługi wszystkich urządzeń w języku polskim.Gwarancja na dostarczone urządzenia- minimum 24 miesiące.Wszystkie parametry oferowanego urządzenia nie mogą być gorsze niż zawarte w specyfikacji Zamawiającego.Obsługa gwarancyjna i pogwarancyjna musi być wykonywana przez serwis autoryzowany przez producenta.Wymagania:Tryby Pracy AFM/STM:- Tryb kontaktowy (CM),- Tryb bezkontaktowy i kontaktu przerywanego (NCM, TM),- Mikroskopia Sił Bocznych ( Lateral Force Microscopy ),- Obrazowanie Fazowe (PI),- Mikroskopia Modulacji Siły,- Mikroskopia Sił Adhezyjnych,- Litografia nanomanipulacja,- Mikroskopia Sił Magnetycznych (MFM),- Mikroskopia Sił Elektrostatycznych (EFM),- Mikroskopia Kelvinowska (KPF),- Mikroskopia PiezoResponse (PFM),- Spektroskopie Siła-Odległość,- Skaningowa Mikroskopia Tunelowa (STM).AFM zintegrowany ze Spektrometrem Ramanowskim:- Musi obsługiwać skanowanie próbką (XYZ);- Musi być wyposażony w obiektyw o parametrach 100x o aperturze numerycznej 0.7NA (lub lepszych) by równocześnie obsługiwać (podczas jednego skanu) pomiary topografii AFM i pomiar konfokalny ramanowski; laser spektrometru powinien oświetlać próbkę przez obiektyw umieszczony prostopadle do powierzchni próbki oraz zbierać sygnał za pomocą tego samego obiektywu;- Długość fali lasera systemu detekcji ostrza powinna wynosić przynajmniej 830 nm;- System podwójnego skanu: skanowanie próbką i skanowanie laserem może odbywać się niezależnie i jednocześnie, z poziomu jednego oprogramowania, bez potrzeby przełączania kabli; skanowanie próbką i przez laser powinno być używane do pozycjonowania sondy AFM, obszaru próbki i plamki lasera; skanowanie próbki powinno być użyte do jednoczesnych pomiarów w trybach mapowania AFM i Raman;- Analiza i uzyskiwanie danych AFM i Raman musi być wykonywane przez jeden program;- Rozmiar próbki powinien wynosić przynajmniej Ø 40x15 mm.Skanery:- Musi zawierać tubowy skaner piezo XYZ do skanowania próbką wyposażony w sensory na osiach X,Y i Z oraz musi działać w trybach zarówno otwartej i zamkniętej pętli; zakres skanera co najmniej 90 µm w osiach XY i 9 µm w osi Z;- Musi zawierać wymienny skaner piezo XYZ do skanowania próbką z wysoką rozdzielczością o zakresie pracy nie więcej niż 10x10x5 µm;- Poziom szumów XY musi wynosić <0.5 nm RMS przy włączonej pętli sprzężenia zwrotnego;- Nieliniowość X-Y musi wynosić mniej niż 1%;- Szum sensora Z musi wynosić mniej niż 0.1 nm RMS przy włączonej pętli sprzężenia zwrotnego.Kontroler SPM:- Kontroler musi zapewniać możliwość skanowania oraz obrazowania matrycy danych w rozdzielczości przynajmniej 1024 x 1024,- Obsługa co najmniej 6 osi skanowania,- Moduł kontroli grzania i chłodzenia.Konfokalny System Ramanowski:- W pełni zautomatyzowany spektrometr skonfigurowany dla 532, 633 nm i 785 nm;- Spektrometr z nie mniej niż 4 siatkami; w pełni zmotoryzowana zmiana wszystkich siatek, przynajmniej – 150 l/mm, 600 l/mm, 1800 l/mm, Echelle,- Zmotoryzowany filtr ND (Neutral Density) do kontroli mocy lasera;- Detektor CCD, chłodzenie Peltier;- Rozdzielczość w płaszczyźnie XY lepsza niż 400 nm dla lasera 473 nm;- Ogniskowa spektrometru nie mniejsza niż 350 mm.Kontrola otoczenia i warunków pracy:- Wymagana jest możliwość pracy w cieczy w trybach AFM/Raman,- Kontrola temperatury: stolik termiczny pozwalający na kontrolę temperatury próbki w zakresie od pokojowej do +150°C przy równoczesnych pomiarach AFM oraz trybach optycznych i ramanowskich,- Antywibracyjny stół optyczny o powierzchni roboczej o wymiarach przynajmniej 750 x 1500 mm.Lasery:- Laser ciała stałego: 532 nm, nie mniej niż 20 mW,- Gazowy laser: He-Ne, 632.8 nm, nie mniej niż 35 mW,- Dla wszystkich wymienionych długości musi zostać zapewniony światłowodowy system podłączenia oraz zestaw filtrów (Plasma, Edge Filter).Oprogramowanie:- Oprogramowanie do obróbki obrazu zawiera analizę przekrojów, analizę chropowatości, analizę rozmiaru, analizę głębi, analizę histogramu, analizę fraktalną i Fourierowską, mieszanie obrazu, autokorekcję oraz ulepszone narzędzia do filtrowania obrazu;- Oprogramowanie do obróbki obrazu ma zdolność wykonywania analizy krzywej siła-odległość, szybkiej analizy Fourierowskiej w 2D oraz dopasowywania płaszczyzny, posiada filtry przejścia wysokiego i niskiego , zdolność zbliżania i oddalania, opcjonalną siatkę na obrazach i krzywych, zmienny kąt cieniowania i wyświetlania oraz przechył; pasek kolorów całkowicie definiowany przez użytkownika, menu do przedstawiania serii obrazów Image and data export format to BMP, JPG, TIFF, ASCII format and MatLab;- Wbudowany język programowania do zautomatyzowania operacji rutynowych i pełnej kontroli nad działaniami SPM; zaprogramowane eksperymenty;- To samo oprogramowanie powinno obsługiwać zarówno system AFM jak i spektrometr, a także zbierać i analizować mapy ramanowskie i obrazy AFM.Akcesoria/Instalacja/Gwarancja:- Przynajmniej 200 sond dla różnych trybów AFM,- Przynajmniej 50 sond typu “top visual” dla równoczesnych pomiarów AFM + Raman,- Zestaw siatek testowych do kalibracji piezo skanerów (minimum 6 sztuk, typ TGSFull lub równoważny),- Zestaw akcesoriów do STM,- Zestaw narzędziowy z elementami potrzebnymi do obsługi urządzenia,- System powinien być objęty przynajmniej 24 miesięczną gwarancją na część mikroskopową oraz przynajmniej 12 miesięcy na lasery,- Instalacja i szkolenie przez przynajmniej 10 dni roboczych,- Czas dostawy: 3 miesiące od podpisania umowy,- Aktualizacje i nowe wersje oprogramowania dostępne bez dodatkowych opłat,- Kontakt z serwisem w trybie on-line przez stronę internetową producenta z możliwością zdalnej diagnostyki,- Możliwość kontaktu z innymi użytkownikami (jednostkami naukowymi) na terenie kraju i za granicą w celu wymiany doświadczeń - wymagane dołączenie listy przynajmniej 10 użytkowników (w tym przynajmniej 2 w Polsce) tego samego typu urządzenia co zaoferowane (może być w innej konfiguracji o ile są to urządzenia kompatybilne, na tej samej platformie),- System klimatyzacji zapewniający wymagane parametry dla pracy urządzenia; wymiary pomieszczenia: powierzchnia 8,48 m2, wysokość 2,8 m; pomieszczenie znajduje się na 2 piętrze budynku; do obsługi urządzenia przewiduje się dwóch pracowników.Test akceptacyjny – do zademonstrowania podczas instalacji systemu:- W trybie AFM należy zademonstrować rozdzielczość wynoszącą 2-5 nm na osi XY,- Należy zademonstrować stopnie atomowe na HOPG w trybie AFM,- Należy zademonstrować pozycjonowanie lasera spektrometru na sondzie przy pomocy skanerów piezo sterowanych z poziomu oprogramowania,- Należy zademonstrować sposób obsługi spektrometru z poziomu oprogramowania obsługującego AFM.Możliwości rozbudowy:- Możliwość rozbudowy do schematu AFM/Raman w trybie odwróconym, a także możliwość rozbudowy o w pełni funkcjonalny zestaw do pomiaru próbek przezroczystych oraz biologicznych zawierający głowicę AFM, skaner zintegrowany z mikroskopem optycznym odwróconym;- Możliwość rozbudowy o komorę cieczową do pomiaru próbek biologicznych,- Możliwość równoczesnej współpracy obu schematów (odgórny i odwrócony) z jednym komputerem sterującym, jednym zestawem elektroniki i jednym spektrometrem,- Możliwość rozbudowy o zestaw do pracy w zewnętrznym polu magnetycznym.Oferowany sprzęt musi być fabrycznie nowy i w pełni sprawny, musi odpowiadać standardom jakościowym i technicznym, wynikającym z funkcji i przeznaczenia, musi być wolny od wad materiałowych, konstrukcyjnych i prawnych, musi spełniać wymagania określone przez Zamawiającego w Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia oraz nie może być obciążony żadnymi prawami na rzecz osób trzecich, a także nie może być prototypem.

Informacje dodatkowe

1. Zamawiający unieważni postępowanie o udzielenie zamówienia, jeżeli zaistnieją okoliczności, o których

mowa w art. 93 ust. 1 Ustawy Pzp.

2. Zamawiający może unieważnić postępowanie o udzieleniu zamówienia, jeśli środki pochodzące z budżetu

Unii Europejskiej oraz niepodlegające zwrotowi środki z pomocy udzielonej przez państwa członkowskie

Europejskiego Porozumienia o Wolnym Handlu (EFTA), które Zamawiający zamierzał przeznaczyć na

sfinansowanie całości lub części zamówienia nie zostały mu przyznane, a możliwość unieważnienia

postępowania na tej podstawie została przewidziana w ogłoszeniu o zamówieniu.

Zdolności techniczne i zawodowe

Wykonawca w celu potwierdzenia posiadania wiedzy i doświadczenia musi wykazać, że należycie wykonał, z zastrzeżeniem art. 26 ust. 2 b Ustawy, w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie minimum dwie dostawy sprzętu podobnego rodzaju jak przedmiot zamówienia, każda o wartości minimum 800 000 zł netto. Ocena spełnienia warunku dokonana zostanie na podstawie: a) wykazu minimum dwóch dostaw sprzętu podobnego rodzaju jak przedmiot zamówienia, każda o wartości minimum 800 000 netto, wykonanych w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - z tego okresu, przygotowane wg wzoru - załącznika nr 5 do SIWZ, b) dokumentów potwierdzających, że dostawy wskazane w wykazie zostały wykonane należycie (np.: referencje, protokoły odbioru).

Wymagane depozyty i gwarancje

Wraz ze złożeniem oferty Zamawiający wymaga potwierdzenia wniesienia wadium w wysokości 30 000 zł w formie i terminie określonych w Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia. Jako gwarancji należytego wykonania umowy Zamawiający ządał będzie wniesienia przez Wykonawcę zabezpieczenia w wysokości 8% ceny ofertowej brutto w formie i terminie określonych w SpecyfikacjiIstotnychWarunków Zamówienia.