„Dostawa zestawu złożonego z nano-scratch-testera, micro-scratch-testera, mikrotwardościomierza, nanotwardościomierza, dwóch mikroskopów świetlnych oraz mikroskopu sił atomowych (AFM) - w ramach projektu Centrum Innowacyjnych Technologii”
Przedmiotem zamówienia jest: dostawa zestawu złożonego z nano-scratch-testera, micro-scratch-testera, mikrotwardościomierza, nanotwardościomierza, dwóch mikroskopów świetlnych oraz mikroskopu sił atomowych (AFM) - w ramach projektu Centrum Innowacyjnych Technologii.
Szczegółowy Opis przedmiotu zamówienia stanowi załącznik nr 1.1 do Siwz.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2014-03-19.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2014-02-06.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2014-02-06
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2014-04-29
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|