Dostawa wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego FEG SEM ze zintegrowanym działem jonowym (FIB), modułami 3D EDS i 3D EBSD oraz modułem nanoindentacji in-situ

Ogłoszenie o zamówieniu (2019-07-18)
Obiekt
Zakres zamówienia
Tytuł: Mikroskopy elektronowe
Numer referencyjny: ZP/PN/49/2019
Krótki opis:
“Dostawa wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego FEG SEM ze zintegrowanym działem jonowym (FIB), modułami 3D EDS (Energy Dispersive X-Ray...”    Pokaż więcej
Metadane ogłoszenia
Język oryginału: polski 🗣️
Typ dokumentu: Ogłoszenie o zamówieniu
Rodzaj zamówienia: Dostawy
Regulacja: Unia Europejska, z udziałem krajów GPA
Wspólny słownik zamówień (CPV)
Kod: Mikroskopy elektronowe 📦
Miejsce wykonania
Region NUTS: Miasto Warszawa 🏙️

Procedura
Typ procedury: Procedura otwarta
Typ oferty: Wniosek dotyczący wszystkich partii
Kryteria przyznawania nagród
Oferta najbardziej korzystna ekonomicznie

Instytucja zamawiająca
Tożsamość
Kraj: Polska 🇵🇱
Typ instytucji zamawiającej: Inne
Nazwa instytucji zamawiającej: Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
Adres pocztowy: Pawińskiego 5B
Kod pocztowy: 02-106
Miasto pocztowe: Warszawa
Kontakt
Adres internetowy: http://www.ippt.pan.pl 🌏
E-mail: amilosz@ippt.pan.pl 📧
Telefon: +48 228269819 📞
Fax: +48 228269819 📠
URL dokumentów: http://www.ippt.pan.pl/przetargi/ 🌏
URL do udziału: https://miniportal.uzp.gov.pl 🌏

Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2019-07-18 📅
Termin składania ofert: 2019-08-26 📅
Data publikacji: 2019-07-23 📅
Data końcowa: 2019-12-15 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2019/S 140-344124
Numer Dz.U.-S: 140
Informacje dodatkowe

“O udzielenie zamówienia ubiegać się mogą wykonawcy, wobec których brak jest podstaw do wykluczenia z postępowania o udzielenie zamówienia, o których mowa w...”    Pokaż więcej
Źródło: OJS 2019/S 140-344124 (2019-07-18)