Informacje dodatkowe
cd. z Pola 5.1 Techniczny ID partii: LOT-0001 - Opis:
OPIS PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA:
(...)
2.1. • Najnowszy stabilny pakiet oprogramowania biurowego, kompatybilny z system operacyjnym laptopa, zawierająca następujące elementy: procesor tekstu, arkusz kalkulacyjny, program do prezentacji, w pełni wspierający formaty plików, docx, .xlsx, .pptx, język polski lub angielski zawierający aplikację służącą do obsługi poczty elektronicznej i organizacji czasu oraz umożliwiającą współpracę z serwerem przy pomocy protokołu dostępu MAPI/RPC.
3. Oprogramowanie mikroskopu:
3.1. Oprogramowanie SPM mikroskopu AFM oparte na systemie zainstalowanym na komputerze do gromadzenia danych za pomocą języka skryptowego
3.2. Jednoczesna akwizycja do 25 kanałów
3.3. Wyświetlanie obrazu w obrazie
3.4. Tryb zapobiegający dryftowi siły wspornika
3.5. Tryby do pomiaru siły
3.6. Minimum czterokanałowe oscyloskopy online z funkcjami FFT
3.7. Interfejs wiersza poleceń umożliwiający dostęp do funkcji podstawowych mikroskopu
3.8. Pełna obsługa zewnętrznego sprzętu i akcesoriów
3.9. Kalibracja dźwigni AFM za pomocą szumu termicznego lub metody Sadera
3.10. Automatyczna korekcja pochylenia próbki za pomocą 3 silników krokowych głowic skanujących
4. Oprogramowanie do analizy danych
4.1. Oparty na Javie do użytku z systemem zainstalowanym na komputerze
4.2. Przeznaczony do obrazowania i analizy materii biologicznej i miękkiej
4.3. Historia etapów przetwarzania
4.4. Moduły przetwarzania obrazu SPM
4.5. Moduł filtrujący
4.6. Moduł poziomowania, obejmujący dopasowanie histogramu i dopasowanie krzywej
4.7. Moduł krzywej siły obejmujący przetwarzanie wsadowe z różnymi procedurami dopasowania, na przykład: dopasowanie stopniowe, WLC, FJC
4.8. Przetwarzanie wsadowe obrazów z różnymi procedurami dopasowania, na przykład: JKR, DMT
4.9. Pomiary przekrojów i odległości
4.10. Określanie chropowatości RMS
4.11. Moduł renderowania 3D
4.12. Licencja z bezpłatnymi aktualizacjami
5. Oprogramowanie kamery
5.1. Automatyczna kalibracja obrazu optycznego
5.2. Kompensacja aberracji i zniekształceń optycznych
5.3. Bezpośredni odczyt wybranych kamer lub import z innych źródeł
5.4. Wybór skanowania AFM na optycznym obrazie tła
5.5. Regulowana przezroczystość nakładanych obrazów
5.6. Kolorowa kamera minimum 1/1,2" USB3.0
6. Moduł oprogramowania do spektroskopii sił
6.1. Pakiet oprogramowania do eksperymentów ze spektroskopią sił
6.2. Pakiet do planowania eksperymentów siłowych, takich jak rampa siłowa lub spektroskopia sił rozciągających
6.3. Dowolna liczba segmentów krzywej siły z wieloma opcjami sprzężenia zwrotnego (np. stała siła, stała wysokość)
6.4. Automatyczna kompensacja wysokości przez silniki głowicy AFM
7. Moduł oprogramowania do planowania eksperymentów
7.1. Umożliwiający planowanie procedur eksperymentalnych, w tym kontrolę sprzętu zewnętrznego
7.2. Pełny dostęp do funkcji obrazowania i spektroskopii sił
7.3. Sterowanie przepływem cieczy, temperaturą, położeniem, rejestracją obrazu z kamery
7.4. Edytor programów z pomocą online i ładowaniem/zapisywaniem planów
8. Moduł oprogramowania do zaawansowanych ilościowych analiz mechanicznych
8.1. Zapewniający rozszerzenia funkcji trybu obrazowania ilościowego
8.2. Działanie we wszystkich zakresach sztywności, łącznie z miękkimi i silnie adhezyjnymi próbkami w cieczy
8.3. Obliczanie online sztywności i przyczepności
8.4. Pełne przechowywanie wszystkich krzywych sił i kanałów do dalszego przetwarzania
8.5. Jednoczesne pozyskiwanie danych zewnętrznych
9. Tryb obrazowania siłowego
9.1. Tryb obrazowania oparty na "tapping" z ruchem liniowym
9.2. Rejestrowanie krzywych siły przy stałym współczynniku obciążenia
9.3. Praca przy wyższych częstotliwościach oscylacji minimum 500 Hz
9.4. Uchwyt sond z czujnikiem wysokości
10. Pakiet do pomiarów nano-reologii
10.1. Pakiet do pomiarów właściwości lepkosprężystych żeli, komórek i tkanek
10.2. Pomiary modulacji sinusoidalnej przy określonych częstotliwościach, które można dowolnie łączyć z dostosowanymi krzywymi siły lub mapowaniem siły
10.3. Asystent do automatycznego konfigurowania eksperymentów modulacyjnych z określonymi częstotliwościami (przy użyciu głowicy piezoelektrycznej) w zakresie minimum: 0,5 – 500 Hz
10.4. Połączenie z listą pozycji dla określonych lokalizacji
10.5. Połączenie z mapowaniem wymuszonym w celu mapowania przy określonej częstotliwości
Zawierający sondy o zdefiniowanych promieniach i wstępnie skalibrowanej stałej sprężystości:
10.6. • Zestaw minimum 5 sond o promieniu w przedziale 20-100 nm
10.7. • Zestaw minimum 5 półsferycznych sond o promieniu w przedziale od 4 do 6 μm i wysokość końcówki w przedziale od 20 do 25 μm, w przedziale od 0,1 do 0,3 N/m
10.8. Nawigacja optyczna i możliwość prowadzenia eksperymentów korelacyjnych
11. Moduł oprogramowania do automatycznego dostosowywania parametrów skanowania
12. Moduł ilościowego obrazowania mechanicznego z możliwością tworzenia skryptów dla niestandardowych procedur dopasowania
13. Akcesoria i materiały użytkowe, w tym:
13.1. Komplet narzędzi niezbędnych do montażu sond AFM
13.2. Uchwyt do małych próbek
13.3. Zestaw startowy sond AFM zawierający minimum 40 sond o minimum 4 różnych typach
13.4. Uniwersalny uchwyt próbek do szalek Petriego WPI i TPP, kompatybilny z wymiarem 35x20mm dla szalek plastikowych i szklanych z możliwością podłączenia obiegu medium oraz wyposażony w pokrywę zapobiegającą parowaniu
13.5. Kontroler temperatury przystosowany do szalek Petriego
13.6. Uchwyt próbek przystosowany do szkiełek nakrywkowych
14. Przyłączany stolik zmotoryzowany i piezoelektryczny o zakresie minimum 100x100x100 μm3 do automatycznego, precyzyjnego pozycjonowania próbki zgrubnie i dokładnie, a także do skanowania próbek XYZ
14.1. Mapowanie obszarów minimum 100 x100 μm
14.2. Możliwość badania adhezji pomiędzy obiektami np. komórka/komórka lub komórka/podłoże w 3D z dużym zakresem rozciągania
14.3. Możliwość badania właściwości mechanicznych, np. komórek roślinnych, warstw komórek, chrząstek, pasożytów, rusztowań, kości lub tkanek chropowatości powierzchni w zakresie mm
14.4. Zmotoryzowany ruch próbki XY
14.5. Silniki o zakresie przesuwu: do 20 mm²
14.6. Rozmiar kroku (rozdzielczość): poniżej 2 μm
14.7. Powtarzalność (jednokierunkowa): poniżej 3 μm
14.8. Maksymalna prędkość: minimum: 1 mm/s
14.9. Skaner ugięcia zintegrowany z zmotoryzowanym stolikiem na próbki
14.10. Pojemnościowe czujniki położenia
14.11. Moduły serwo i wzmacniacze wysokiego napięcia
14.12. Integracja z oprogramowaniem mikroskopu
14.13. Możliwość trybów oprogramowania do eksperymentów ze wzbudzeniem optycznym ogniskowaniem optycznym, eksperymentów z użyciem skanowania lub rozciągania
14.14. Kompatybilny ze standardowymi uchwytami na próbki
15. Podgląd optyczny z góry z płytką stykową do stanowiska roboczego lub odwróconego mikroskopu optycznego
15.1. Układ optyczny z widokiem z góry do próbek nieprzezroczystych
15.2. Montowany na dołączonej do zestawu płycie bazowej (w zestawie) do użytku samodzielnego lub w konfiguracji z odwróconym mikroskopem optycznym
15.3. Koncentryczne oświetlenie Köhlera ze źródłem światła LED
15.4. Pozaosiowe oświetlenie pierścieniowe LED
15.5. Minimum 12-krotny zoom manualny
15.6. Wyposażony w minimum ręczną regulację ostrości i obrotowe ramię
15.7. Rozdzielczość <4 µm
15.8. Możliwość bezpośredniego montażu na płytkach stykowych metrycznych
15.9. Zawierający kolorową kamerę minimum 1/1,8", minimum USB3.0
16. Optyczny mikroskop odwrócony
16.1. Mikroskop sterowany minimum manualnie
16.2. Kondenser o odległości roboczej WD 70 mm +/- 5 mm i aperturze NA 0,3 +/- 0,1
16.3. Port z dwoma, pozycjami przełącznika: 100%/0%
16.4. Oświetlenie LED do transmisji
16.5. Obiektyw minimum 40x/0.6, minimum PH2, minimum WD 3,3 – 1,9 mm
16.6. Obiektyw minimum 10x/0.25 minimum PhH1
16.7. Binokular
16.8. Elementy oczne minimum 10x/20
16.9. Adapter wideo typu C-Mount 1.0x
16.10. Zestaw narzędzi montażowych do mikroskopu standardowo oferowany przez producenta
16.11. Kamerę minimum CMOS 1/1,2", minimum USB 3.0, kolorowa
17. Uchwyt sond umożliwiający podgląd „z boku”
17.1. Przystosowany do typowych kuwet oraz do głębokich i szerokich kuwet, takich jak szalki Petriego
17.2. Zawierający mechanizm sprężynowy do montażu sondy AFM
17.3. Uchwyt wspornikowy sondy AFM z precyzyjnie zamontowanym lustrem
17.4. Możliwość widoku zarówno od dołu, jak i z boku wspornika
17.5. Możliwość obserwacji obszaru sonda AFM-próbka, np. w celu monitorowania interakcji końcówka-próbka
17.6. Kompatybilny z roztworami wodnymi i epi-luminescencją
17.7. Apertura numeryczna: 0,3 +/- 0,1
18. Tłumienie wibracji i ochrona akustyczna
18.1. Stacjonarny system aktywnej izolacji drgań
18.2. Aktywna szerokość pasma w zakresie minimum 0,6 Hz – 200 Hz
18.3. Izolacja minimum: 40 dB przy częstotliwości powyżej 10 Hz
18.4. Wymiary (400 x 500 x 85 mm3) +/- 20% (każdy wymiar)
18.5. Waga maximum 30 kg
19. Obudowa akustyczna
19.1. Izolacja akustyczna do typowych warunków akustycznych w laboratoriach, zabezpieczona zdejmowaną ramą z ekranem
19.2. Okna od frontu i po bokach umożliwiające podgląd na monitorze komputera AFM
19.3. Drzwi z oknem
19.4. Przepusty kablowe minimum: 2x tył, 1x lewy, 1x prawy
19.5. Miejsce dla aktywnej platformowej izolacji wibracyjnej
19.6. Wymiary zewnętrzne około (1100 x 1100 x 1160 mm³) +/- 20% (każdy wymiar)
19.7. Część przednia zdejmowana
20. Podstawa do obudowy akustycznej
20.1. Wolnostojący stół pomocniczy
20.2. Konstrukcja stalowa
20.3. Płyta górna typu „sandwich”. Wymiary 114 cm x 114 cm +/- 20% (każdy wymiar)
20.4. Możliwość regulacji wysokości nóżek w celu wyrównania nachylenia podłogi, wysokość łącznie płyty górnej 90 cm +/- 5%
21. Opcja szybkiego skanowania dla AFM
21.1. Szybkość skanowania minimum 180 Hz dla zakresów skanowania do 2 μm
(...) Cd w polu 5.1.2Miejsce realizacji. Informacje dodatkowe