Dostawa sprzętu i aparatury do celów badawczo-naukowych. Część 1. Miernik do wysokoczęstotliwościowych pomiarów odkształceń konstrukcji z wykorzystaniem czujników światłowodowych typu FBG. Część 2. Miernik zwiększający liczbę pomiarowych kanałów optycznych z poz. 1 (niezależny) do poligonowych, quasi-statycznych pomiarów odkształceń konstrukcji. Część 3. Przenośny system akwizycji danych podłączany zewnętrzny do laptopa. Część 4. Przetarg na zakup akcelerometrów sejsmicznych (czujników drgań) jednoosiowych ICP® - 3 szt. Część 5. Czujniki odkształcenia wykonane przy użyciu światłowodowych siatek Bragga – 20 szt oraz Temperaturowa sonda pomiarowa wykonana na bazie światłowodowych siatek Bragga – 1 szt.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2010-05-25.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2010-05-04.
Ogłoszenie o zamówieniu (2010-04-29) Obiekt Zakres zamówienia
Tytuł: Mierniki elektroniczne
Pełny tekst:
“Dostawa sprzętu i aparatury do celów badawczo-naukowych. Część 1. Miernik do wysokoczęstotliwościowych pomiarów odkształceń konstrukcji z wykorzystaniem...”
Pełny tekst
Dostawa sprzętu i aparatury do celów badawczo-naukowych. Część 1. Miernik do wysokoczęstotliwościowych pomiarów odkształceń konstrukcji z wykorzystaniem czujników światłowodowych typu FBG. Część 2. Miernik zwiększający liczbę pomiarowych kanałów optycznych z poz. 1 (niezależny) do poligonowych, quasi-statycznych pomiarów odkształceń konstrukcji. Część 3. Przenośny system akwizycji danych podłączany zewnętrzny do laptopa. Część 4. Przetarg na zakup akcelerometrów sejsmicznych (czujników drgań) jednoosiowych ICP® - 3 szt. Część 5. Czujniki odkształcenia wykonane przy użyciu światłowodowych siatek Bragga – 20 szt oraz Temperaturowa sonda pomiarowa wykonana na bazie światłowodowych siatek Bragga – 1 szt.
Pokaż więcej Miejsce wykonania Trójmiejski🏙️ Metadane ogłoszenia
Typ dokumentu: Ogłoszenie o zamówieniu
Rodzaj zamówienia: Zamówienie publiczne na dostawy
Regulacja: Wspólnoty Europejskie
Język oryginału: polski 🗣️
Procedura
Typ procedury: Procedura otwarta
Kryteria przyznawania nagród
Najniższa cena
Typ oferty: Oferta całościowa lub częściowa
Typ instytucji zamawiającej: Inne
Główna działalność: Inny
Instytucja zamawiająca Tożsamość
Nazwa instytucji zamawiającej: Instytut Maszyn Przepływowych im. Roberta Szewalskiego Polskiej Akademii Nauk
Kraj: Polska 🇵🇱 Kontakt
Adres internetowy: www.imp.gda.pl🌏
Odniesienie Daty
Data publikacji: 2010-05-04 📅
Data wysłania: 2010-04-29 📅
Termin składania ofert: 2010-05-25 📅
Data wysłania dokumentów zamówienia: 2010-05-25 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia (legacy): 128879-2010
Numer Dz.U.-S: 86/2010
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia (2010-06-14) Obiekt Metadane ogłoszenia
Typ dokumentu: Udzielenie zamówienia
Procedura
Typ oferty: Nie dotyczy
Odniesienie Daty
Data publikacji: 2010-06-16 📅
Data wysłania: 2010-06-14 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia (legacy): 173665-2010
Numer Dz.U.-S: 115/2010
Odnosi się do ogłoszenia: 128879-2010
Obiekt Szczegóły udzielenia zamówienia
Udzielone zamówienie: NAZWA I ADRES WYKONAWCY, NA RZECZ KTÓREGO ZOSTAŁA WYDANA DECYZJA O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA EC Test Systems Sp. z o.o. ul. Lublańska 34 31-476 Kraków POLSKA E-mail: biuro@ects.pl Tel. +48 126277777 Internet: www.ects.pl Faks +48 126277770
EC Test Systems ul. Lublańska 34 31-476 Kraków POLSKA E-mail: biuro@ects.pl Tel. +48 126277777 Internet: www.ects.pl Faks +48 126277770
National Instruments Poland sp. z o.o. Salzburg Center ul. Grójecka 5 02-025 Warszawa POLSKA E-mail: ni.poland@ni.com Tel. +48 223289010 Internet: www.ni.com Faks +48 223319640
EC Test Systems Sp. z o.o. ul. Lublańska 34 31-476 Kraków POLSKA E-mail: biuro@ects.pl Tel. +48 126277777 Internet: www.ects.pl Faks +48 126277770
EC Test Systems Sp. z o.o. ul. Lublańska 34 31-476 Kraków POLSKA E-mail: biuro@ects.pl Tel. +48 126277777 Internet: www.ects.pl Faks +48 126277770
Źródło: OJS 2010/S 115-173665 (2010-06-14)