2015-04-02Dostawa wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową (HR-FE-SEM) kompatybilnego z... (Cezamat PW Sp. z o.o.)
1. Przedmiotem zamówienia objętym niniejszym postępowaniem jest dostawa wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową (HR-FE-SEM) kompatybilnego z procesami litograficznymi wraz z wyposażeniem na potrzeby realizacji projektu „Fotonika
i Technologie Terahercowe – Rozwój Wydziałowego Centrum Badawczego” współfinansowanego ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka 2007-2013 na warunkach określonych w Szczegółowym …
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:Carl Zeiss Sp. z o.o.
2014-07-08Dostawa urządzeń dla laboratorium badań materiałowych (Wrocławski Park Technologiczny S.A.)
1) Przedmiotem zamówienia jest dostawa (dowóz, wniesienie), montaż i uruchomienie fabrycznie nowych (rok produkcji nie wcześniej niż 2013r. urządzeń stanowiących wyposażenie Laboratorium Badań Materiałowych Wrocławskiego Parku Technologicznego wraz z przeszkoleniem osób przewidzianych do obsługi urządzeń w zakresie obsługi i konserwacji.
3) Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia.
Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia przedstawiony jest w Części III SIWZ – Opis Przedmiotu Zamówienia (OPZ) oraz w Tabelach cen.
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:LABSOFT Krzysztof HermanMerazet S.A.Zwick Roell Polska Sp. z o.o.
2014-05-07Dostawa elektronowego mikroskopu skaningowego (Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN)
1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowego, nie powystawowego, wysokiej jakości, wolnego od wad elektronowego mikroskopu skaningowego a także jego instalacja i przeszkolenie obsługi. 2. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia wraz z wymaganiami w zakresie jego realizacji oraz warunków gwarancji zawarty jest w Załączniku nr 2 - „Arkusz Informacji Technicznej” stanowiącym integralną część SIWZ.
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:Jeol (Europe) SAS
2014-03-07Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) (Instytut Badań i Rozwoju Motoryzacji Bosmal Sp. z o.o.)
System skaningowego mikroskopu elektronowego (SEM), z możliwością obserwacji próbek przewodzących i nieprzewodzących, o różnych typach powierzchni, przygotowywanych za pomocą konwencjonalnych metod. Mikroskop musi mieć możliwość pracy w trybie niskiej i wysokiej próżni i być wyposażony w katodę wolframową, pracującą przy zmiennym napięciu przyspieszającym. Mikroskop musi być wyposażony
we wszystkie niezbędne detektory do analizy obrazu (SE i BSE) oraz do analizy składu pierwiastkowego próbek metodą EDS i …
Wyświetlenie zamówienia » Wymienieni dostawcy:Carl Zeiss Sp. z o.o.