Zamówienia: Mikroskopy Darkfielda i mikroskopy z sondą skanującą
>20 zamówienia archiwalne
Mikroskopy Darkfielda i mikroskopy z sondą skanującą zostały zamówione przez organizacje takie jak Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. A. Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk w Krakowie, Uniwersytet Jagielloński i Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie.
Historycznie rzecz biorąc, dostawcy w tym obszarze byli Labsoft Sp. z o.o., Schaefer Technologie GmbH, IGHT s.c. Ignacy Mościcki, Grzegorz Kaszyński, Alteris S.A., AM Technologies Polska Sp. z o. o., Andrzej Wiśniewski COMEF Aparatura Naukowo-Badawcza, Bionicum Sp. z o.o., Canberra PAckard Sp. z o. o., Carl Zeiss Sp. z o.o. i Comef Sp. z o.o. Sp. k..
- Sprzęt laboratoryjny, optyczny i precyzyjny (z wyjątkiem szklanego) (>20 nowe zamówienia)
- Aparatura kontrolna i badawcza (>20)
- Mikroskopy (15)
- Mikroskopy Darkfielda i mikroskopy z sondą skanującą ⬅️
Ostatnie zamówienia na mikroskopy Darkfielda i mikroskopy z sondą skanującą w Polska
2026-03-18
Zakup i dostawa inkubatora, mikroskopu oraz akcesoriów do mikroskopów dla Wydziału Biologii Uniwersytetu Warszawskiego (Uniwersytet Warszawski)
Zakup i dostawa inkubatora, mikroskopu oraz akcesoriów do mikroskopów dla Wydziału Biologii Uniwersytetu Warszawskiego Wyświetlenie zamówienia »
Zakup i dostawa inkubatora, mikroskopu oraz akcesoriów do mikroskopów dla Wydziału Biologii Uniwersytetu Warszawskiego Wyświetlenie zamówienia »
2025-10-16
Dostawa mikroskopu sił atomowych umożliwiającego pomiary automatyczne (Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk)
Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z: 1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego. 2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o … Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest zestaw mikroskopu sił atomowych (ang. atomic force microscope- AFM) umożliwiający pomiar topografii i innych właściwości podłoży oraz warstw epitaksjalnych struktur półprzewodnikowych, w szczególności wytworzonych metodą MBE na podłożach GaN, składający się z: 1) Niezależnych skanerów w osi Z oraz XY przy czym skaner osi Z jest zintegrowany w głowicy mikroskopu, a skaner XY, jest elementem stolika skanującego. 2) Zautomatyzowanego stolika umożliwiającego pomiary podłoży o … Wyświetlenie zamówienia »
2025-09-11
Dostawa kontrolera oraz głowicy AFM dla IFJ PAN w Krakowie (DZP.260.27.2025) (Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa kontrolera oraz głowicy AFM do posiadanego przez zamawiającego mikroskopu sił atomowych (AFM) Nanowizard IV zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym dla IFJ PAN w Krakowie. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określa załącznik nr: 1 do SWZ. Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest dostawa kontrolera oraz głowicy AFM do posiadanego przez zamawiającego mikroskopu sił atomowych (AFM) Nanowizard IV zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym dla IFJ PAN w Krakowie. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określa załącznik nr: 1 do SWZ. Wyświetlenie zamówienia »
2024-10-11
Dostawa skaningowego mikroskopu elektrochemicznego dla ACMiN AGH - DE-dzp.272-566/24 (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa skaningowego mikroskopu elektrochemicznego dla ACMiN AGH, zgodnie z wymaganiami opisanymi w pkt 4.1 SWZ Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest dostawa skaningowego mikroskopu elektrochemicznego dla ACMiN AGH, zgodnie z wymaganiami opisanymi w pkt 4.1 SWZ Wyświetlenie zamówienia »
2023-01-25
DOSTAWA WYPOSAŻENIA STANOWISK DO BADANIA MATERIAŁÓW BUDOWLANYCH DLA LABORATORIUM BADAWCZEGO WYDZIAŁU INŻYNIERII... (Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego)
Przedmiotem zamówienia jest: Zadanie nr 1 Dostawa analizatora termicznego TG/DSC ze spektrometrem mas dla Laboratorium Badawczego Wydziału Inżynierii Lądowej i Geodezji; Zadanie nr 2 Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z detektorem EDS dla Laboratorium Badawczego Wydziału Inżynierii Lądowej i Geodezji; Zadanie nr 3 Dostawa optycznego analizatora profilu i chropowatości powierzchni dla Laboratorium Badawczego Wydziału Inżynierii Lądowej i Geodezji. Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest: Zadanie nr 1 Dostawa analizatora termicznego TG/DSC ze spektrometrem mas dla Laboratorium Badawczego Wydziału Inżynierii Lądowej i Geodezji; Zadanie nr 2 Dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z detektorem EDS dla Laboratorium Badawczego Wydziału Inżynierii Lądowej i Geodezji; Zadanie nr 3 Dostawa optycznego analizatora profilu i chropowatości powierzchni dla Laboratorium Badawczego Wydziału Inżynierii Lądowej i Geodezji. Wyświetlenie zamówienia »
2021-07-21
Dostawa mikroskopu sił atomowych, nr sprawy WF-37-15/21 (Uniwersytet Warszawski Wydział Fizyki)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu sił atomowych, szczegółowo opisano w załączniku nr 1 SWZ oraz we wzorze umowy, dostępne na stronie internetowej zamawiającego (https://www.fuw.edu.pl/zamowienia-publiczne.html). Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu sił atomowych, szczegółowo opisano w załączniku nr 1 SWZ oraz we wzorze umowy, dostępne na stronie internetowej zamawiającego (https://www.fuw.edu.pl/zamowienia-publiczne.html). Wyświetlenie zamówienia »
2019-07-31
Dostawa sprzężonego układu nanoindentera z mikroskopem sił atomowych (AFM) umożliwiającego wysokorozdzielcze... (Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie)
Dostawa sprzężonego układu nanoindentera z mikroskopem sił atomowych (AFM) umożliwiającego wysokorozdzielcze mapowanie powierzchni wraz z pełną charakterystyką fizykochemiczną wraz z zestawem ostrzy pomiarowych i przeszkoleniem dla Akademickiego Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH. Wyświetlenie zamówienia »
Dostawa sprzężonego układu nanoindentera z mikroskopem sił atomowych (AFM) umożliwiającego wysokorozdzielcze mapowanie powierzchni wraz z pełną charakterystyką fizykochemiczną wraz z zestawem ostrzy pomiarowych i przeszkoleniem dla Akademickiego Centrum Materiałów i Nanotechnologii AGH. Wyświetlenie zamówienia »
2018-12-20
Dostawa aparatury badawczej dla Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych PAN Znak sprawy: PN/UOPWE/01/2018 (Centrum Materiałów Polimerowych i Węglowych Polskiej Akademii Nauk)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa następujących urządzeń: Zadanie 1: Dyfraktometr rentgenowski do pomiarów struktur uporządkowanych w materiałach grafenowych; Zadanie 2: Mikroskop sił atomowych do charakterystyki powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych; Zadanie 3: Kamera do akwizycji obrazów TEM wraz z oprogramowaniem umożliwiającym rejestrację serii pochyłów oraz analizę pojedynczych obiektów SPA; Zadanie nr 4: Urządzenie do witryfikacji zanurzeniowej o … Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest dostawa następujących urządzeń: Zadanie 1: Dyfraktometr rentgenowski do pomiarów struktur uporządkowanych w materiałach grafenowych; Zadanie 2: Mikroskop sił atomowych do charakterystyki powierzchni materiałów polimerowych i węglowych oraz struktur biologicznych; Zadanie 3: Kamera do akwizycji obrazów TEM wraz z oprogramowaniem umożliwiającym rejestrację serii pochyłów oraz analizę pojedynczych obiektów SPA; Zadanie nr 4: Urządzenie do witryfikacji zanurzeniowej o … Wyświetlenie zamówienia »
2017-10-17
Dostawa sprzętu medycznego dla UCK (Uniwersyteckie Centrum Kliniczne)
1.Przedmiotem zamówienia jest dostawa sprzętu medycznego o parametrach technicznych określonych w załącznikach nr 4a, 4b, 4c, 4d, 4e, 4f, 4g, 4h, 4i, 4j, 4k do SIWZ, zwanego dalej „sprzętem”, wraz z instalacją oraz przeszkoleniem pracowników Zamawiającego. 2. Wymieniony wyżej sprzęt musi spełniać parametry graniczne określone odpowiednio w załącznikach nr 4a, 4b, 4c, 4d, 4e, 4f, 4g, 4h, 4i, 4j lub 4k do SIWZ. Niespełnienie chociażby jednego z parametrów granicznych określonych odpowiednio w załącznikach … Wyświetlenie zamówienia »
1.Przedmiotem zamówienia jest dostawa sprzętu medycznego o parametrach technicznych określonych w załącznikach nr 4a, 4b, 4c, 4d, 4e, 4f, 4g, 4h, 4i, 4j, 4k do SIWZ, zwanego dalej „sprzętem”, wraz z instalacją oraz przeszkoleniem pracowników Zamawiającego. 2. Wymieniony wyżej sprzęt musi spełniać parametry graniczne określone odpowiednio w załącznikach nr 4a, 4b, 4c, 4d, 4e, 4f, 4g, 4h, 4i, 4j lub 4k do SIWZ. Niespełnienie chociażby jednego z parametrów granicznych określonych odpowiednio w załącznikach … Wyświetlenie zamówienia »
2015-05-28
45/WMW/SGGW/2015 wyposażenie laboratoriów projektu Centrum Badań Biomedycznych (Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego w Warszawie)
Opis przedmiotu zamówienia Wyposażenie laboratoriów projektu Centrum Badań Biomedycznych – dostawa wyposażenia w ramach projektu Centrum Badań Biomedycznych, szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi załącznik nr 6 do SIWZ. Opis części zamówienia Dopuszcza się złożenie ofert częściowych TAK Oznaczenie części zamówienia: Zadanie I Wyposażenie Pracowni Hodowli Komórek i Tkanek CPV: 33192350-0, 38311100-9,38430000-8, 38433200-1, 38437000-7, 38515200-0, 39711100-0, 42513000-5, 42514000-2, 42943000-8, … Wyświetlenie zamówienia »
Opis przedmiotu zamówienia Wyposażenie laboratoriów projektu Centrum Badań Biomedycznych – dostawa wyposażenia w ramach projektu Centrum Badań Biomedycznych, szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi załącznik nr 6 do SIWZ. Opis części zamówienia Dopuszcza się złożenie ofert częściowych TAK Oznaczenie części zamówienia: Zadanie I Wyposażenie Pracowni Hodowli Komórek i Tkanek CPV: 33192350-0, 38311100-9,38430000-8, 38433200-1, 38437000-7, 38515200-0, 39711100-0, 42513000-5, 42514000-2, 42943000-8, … Wyświetlenie zamówienia »
2015-04-17
Dostawa i montaż mikroskopu siła atomowych (AFM) zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i... (Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa i montaż mikroskopu sił atomowych (AFM) zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym (MF) dedykowanego do badań własności mechanicznych żywych komórek oraz dostawa i montaż klimatyzatora zapewniającego odpowiednie warunki pomiarowe pod względem temperatury i wilgotności. Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest dostawa i montaż mikroskopu sił atomowych (AFM) zintegrowanego z odwróconym mikroskopem optycznym i fluorescencyjnym (MF) dedykowanego do badań własności mechanicznych żywych komórek oraz dostawa i montaż klimatyzatora zapewniającego odpowiednie warunki pomiarowe pod względem temperatury i wilgotności. Wyświetlenie zamówienia »
2013-12-06
Dostawa aparatury naukowo-badawczej dla Wydziału Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS w Lublinie w ramach projektu... (Uniwersytet Marii Curie-Skłodowskiej)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa aparatury naukowo-badawczej dla Wydziału Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS w Lublinie w ramach projektu „Rozwój i modernizacja bazy dydaktyczno-naukowej na kierunkach priorytetowych UMCS” podzielona na pięć części. Umowa o dofinansowanie nr UDA-POIS.13.01-045/08-00 zawarta w dniu 30 stycznia 2012 r. Projekt ,,Rozwój i modernizacja bazy dydaktyczno-naukowej na kierunkach priorytetowych UMCS” POIS.13.01.00-00-045/08 realizowany w ramach działania 13.1 Infrastruktura … Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest dostawa aparatury naukowo-badawczej dla Wydziału Matematyki, Fizyki i Informatyki UMCS w Lublinie w ramach projektu „Rozwój i modernizacja bazy dydaktyczno-naukowej na kierunkach priorytetowych UMCS” podzielona na pięć części. Umowa o dofinansowanie nr UDA-POIS.13.01-045/08-00 zawarta w dniu 30 stycznia 2012 r. Projekt ,,Rozwój i modernizacja bazy dydaktyczno-naukowej na kierunkach priorytetowych UMCS” POIS.13.01.00-00-045/08 realizowany w ramach działania 13.1 Infrastruktura … Wyświetlenie zamówienia »
2013-11-19
Wyłonienie Wykonawcy w zakresie dostawy i montażu platformy pomiarowej LT 4-probe z akcesoriami dla WFAiIS UJ w... (Uniwersytet Jagielloński)
1. Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wyłonienie Wykonawcy w zakresie dostawy i montażu platformy pomiarowej LT 4-probe z akcesoriami, tj. dedykowanego niskotemperaturowego mikroskopu skanującego z czterema niezależnymi modułami SPM i wyposażeniem, dla Wydziału Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Jagiellońskiego, zlokalizowanym na terenie Kampusu 600-lecia Odnowienia UJ, przy ul. Łojasiewicza 11 w Krakowie. 1.1 Zamawiający posiada systemem pomiarowym UHV Nanoprobe produkcji … Wyświetlenie zamówienia »
1. Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wyłonienie Wykonawcy w zakresie dostawy i montażu platformy pomiarowej LT 4-probe z akcesoriami, tj. dedykowanego niskotemperaturowego mikroskopu skanującego z czterema niezależnymi modułami SPM i wyposażeniem, dla Wydziału Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej Uniwersytetu Jagiellońskiego, zlokalizowanym na terenie Kampusu 600-lecia Odnowienia UJ, przy ul. Łojasiewicza 11 w Krakowie. 1.1 Zamawiający posiada systemem pomiarowym UHV Nanoprobe produkcji … Wyświetlenie zamówienia »
2013-05-06
Dostawa i instalacja aparatury naukowej dla Uniwersytetu Łódzkiego (Uniwersytet Łódzki)
Zamówienie publiczne obejmuje dostawę i instalację elektronowego mikroskopu skaningowego z analizatorem EDS oraz mikroskopu EC-AFM dla Wydziału Chemii UŁ. Wyświetlenie zamówienia »
Zamówienie publiczne obejmuje dostawę i instalację elektronowego mikroskopu skaningowego z analizatorem EDS oraz mikroskopu EC-AFM dla Wydziału Chemii UŁ. Wyświetlenie zamówienia »
2013-03-29
Skaningowy mikroskop bliskich oddziaływań AFM/STM (Instytut Chemii Fizycznej PAN)
Dostawa, instalacja, uruchomienie, przeprowadzenie testu obrazowania powierzchni atomowo gładkiej (HOPG, mika) oraz dwuetapowe szkolenie w zakresie obsługi mikroskopu i oprogramowania, fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu bliskich oddziaływań AFM/STM pracującego w warunkach kontrolowanego środowiska gazu lub cieczy o parametrach technicznych wymienionych w specyfikacji istotnych warunków zamówienia. Wyświetlenie zamówienia »
Dostawa, instalacja, uruchomienie, przeprowadzenie testu obrazowania powierzchni atomowo gładkiej (HOPG, mika) oraz dwuetapowe szkolenie w zakresie obsługi mikroskopu i oprogramowania, fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu bliskich oddziaływań AFM/STM pracującego w warunkach kontrolowanego środowiska gazu lub cieczy o parametrach technicznych wymienionych w specyfikacji istotnych warunków zamówienia. Wyświetlenie zamówienia »
2013-02-19
dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM, Tunelowy oraz Sił Atomowych), zakup, montaż,... (Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. A. Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk w Krakowie)
dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM, Tunelowy oraz Sił Atomowych), zakup, montaż, uruchomienie, instruktaż Wyświetlenie zamówienia »
dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM, Tunelowy oraz Sił Atomowych), zakup, montaż, uruchomienie, instruktaż Wyświetlenie zamówienia »
2013-01-22
Dostawa, instalacja i uruchomienie profilometru mechanicznego, napylarki próżniowej, zestawów mikroskopów oraz... (Uniwersytet Rzeszowski)
Zamówienie zostało podzielone na 4 zadania: Zadanie 1: Dostawa, instalacja i uruchomienie nowego profilometru mechanicznego wraz z przeszkoleniem personelu Zamawiającego. Zadanie 2: Dostawa, instalacja i uruchomienie nowej napylarki próżniowej wraz z przeszkoleniem personelu Zamawiającego. Zadanie 3: Dostawa, instalacja i uruchomienie 2 fabrycznie nowych zestawów mikroskopów AFM/STM (z sondami skanującymi) – zestawy dydaktyczne wraz z wyposażeniem dodatkowym. Zadanie 4: Dostawa, instalacja i uruchomienie … Wyświetlenie zamówienia »
Zamówienie zostało podzielone na 4 zadania: Zadanie 1: Dostawa, instalacja i uruchomienie nowego profilometru mechanicznego wraz z przeszkoleniem personelu Zamawiającego. Zadanie 2: Dostawa, instalacja i uruchomienie nowej napylarki próżniowej wraz z przeszkoleniem personelu Zamawiającego. Zadanie 3: Dostawa, instalacja i uruchomienie 2 fabrycznie nowych zestawów mikroskopów AFM/STM (z sondami skanującymi) – zestawy dydaktyczne wraz z wyposażeniem dodatkowym. Zadanie 4: Dostawa, instalacja i uruchomienie … Wyświetlenie zamówienia »
2012-11-09
Wyłonienie Wykonawcy w zakresie dostawy wyposażenia dla Grupy Pracowni Specjalistycznych dla kierunku Zaawansowane... (Uniwersytet Jagielloński)
1. Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wyłonienie Wykonawcy w zakresie zakupu i dostawy wyposażenia dla celów dydaktycznych w postaci: jednego (1) elipsometru kompaktowego, jednego (1) mikroskopu AFM, w odniesieniu od jednej do dwóch części zamówienia, tj. kompletnych urządzeń i elementów, przyrządów aparatury kontrolnej i badawczej, w ramach projektu pn. „Rozbudowa i modernizacja infrastruktury dydaktycznej na kierunkach przyrodniczych i ścisłych UJ”, współfinansowanego przez Unię Europejską w … Wyświetlenie zamówienia »
1. Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wyłonienie Wykonawcy w zakresie zakupu i dostawy wyposażenia dla celów dydaktycznych w postaci: jednego (1) elipsometru kompaktowego, jednego (1) mikroskopu AFM, w odniesieniu od jednej do dwóch części zamówienia, tj. kompletnych urządzeń i elementów, przyrządów aparatury kontrolnej i badawczej, w ramach projektu pn. „Rozbudowa i modernizacja infrastruktury dydaktycznej na kierunkach przyrodniczych i ścisłych UJ”, współfinansowanego przez Unię Europejską w … Wyświetlenie zamówienia »
2012-08-10
Dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM, Tunelowy oraz Sił Atomowych), zakup,montaż,... (Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. A. Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk w Krakowie)
Dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM) z wyposażeniem do elektrochemicznych badań in-situ, ex-situ oraz własności chemicznych i fizycznych osadów elektrolitycznych i produktów korozji (zakup, montaż, uruchomienie, instruktaż). Wyświetlenie zamówienia »
Dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM) z wyposażeniem do elektrochemicznych badań in-situ, ex-situ oraz własności chemicznych i fizycznych osadów elektrolitycznych i produktów korozji (zakup, montaż, uruchomienie, instruktaż). Wyświetlenie zamówienia »
2012-06-15
Dostawa systemu mikroskopów (Uniwersytet Warszawski)
Przedmiotem zamówienia jest dostawa zestawu mikroskopów, do wyposażenia studenckiej pracowni mikroskopii sił atomowych i mikroskopii tunelowej. Szczegółowy opis mikroskopów znajduje się w Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia, dostępnej na stronie internetowej Zamawiającego, pod adresem www.fuw.edu.pl - w zakładce "zamówienia publiczne". Wyświetlenie zamówienia »
Przedmiotem zamówienia jest dostawa zestawu mikroskopów, do wyposażenia studenckiej pracowni mikroskopii sił atomowych i mikroskopii tunelowej. Szczegółowy opis mikroskopów znajduje się w Specyfikacji Istotnych Warunków Zamówienia, dostępnej na stronie internetowej Zamawiającego, pod adresem www.fuw.edu.pl - w zakładce "zamówienia publiczne". Wyświetlenie zamówienia »
2012-04-12
Dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM, Tunelowy oraz Sił Atomowych), zakup, montaż,... (Instytut Metalurgii i Inżynierii Materiałowej im. A. Krupkowskiego Polskiej Akademii Nauk w Krakowie)
Dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM) z wyposażeniem do elektrochemicznych badań in-situ, ex-situ oraz własności chemicznych i fizycznych osadów elektrolitycznych i produktów korozji (zakup, montaż, uruchomienie, instruktaż). Wyświetlenie zamówienia »
Dostawa Elektrochemicznego Mikroskopu ze Skanującą Sondą (SPM) z wyposażeniem do elektrochemicznych badań in-situ, ex-situ oraz własności chemicznych i fizycznych osadów elektrolitycznych i produktów korozji (zakup, montaż, uruchomienie, instruktaż). Wyświetlenie zamówienia »
2011-11-24
Wyłonienie Wykonawcy w zakresie dostawy wyposażenia dla Grupy Pracowni Specjalistycznych dla kierunku Zaawansowane... (Uniwersytet Jagielloński)
1. Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wyłonienie Wykonawcy w zakresie zakupu i dostawy wyposażenia dla celów dydaktycznych w postaci zestawu do ćwiczeń z mikroskopii z sondą skanującą (tunelowej i sił atomowych), tj. nowych, kompletnych urządzeń i elementów, przyrządów aparatury kontrolnej i badawczej, w ramach projektu pn. „Rozbudowa i modernizacja infrastruktury dydaktycznej na kierunkach przyrodniczych i ścisłych UJ”, współfinansowanego przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu … Wyświetlenie zamówienia »
1. Przedmiotem postępowania i zamówienia jest wyłonienie Wykonawcy w zakresie zakupu i dostawy wyposażenia dla celów dydaktycznych w postaci zestawu do ćwiczeń z mikroskopii z sondą skanującą (tunelowej i sił atomowych), tj. nowych, kompletnych urządzeń i elementów, przyrządów aparatury kontrolnej i badawczej, w ramach projektu pn. „Rozbudowa i modernizacja infrastruktury dydaktycznej na kierunkach przyrodniczych i ścisłych UJ”, współfinansowanego przez Unię Europejską w ramach Europejskiego Funduszu … Wyświetlenie zamówienia »
2011-01-04
Dostawa kompletnego systemu AFM dla Instytutu Fizyki Politechniki Wrocławskiej (Politechnika Wrocławska)
1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa nowego, instalacja, uruchomienie kompletnego systemu AFM (Mikroskop sił atomowych). Urządzenie musi posiadać instrukcję obsługi. Okres gwarancji 12 miesięcy. 2. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się w załączniku nr 4 do SIWZ. 3. Szczegółowy zakres obowiązków wykonania przedmiotu zamówienia znajduje się we wzorze umowy, stanowiącym załącznik nr 5 do SIWZ. Wyświetlenie zamówienia »
1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa nowego, instalacja, uruchomienie kompletnego systemu AFM (Mikroskop sił atomowych). Urządzenie musi posiadać instrukcję obsługi. Okres gwarancji 12 miesięcy. 2. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia znajduje się w załączniku nr 4 do SIWZ. 3. Szczegółowy zakres obowiązków wykonania przedmiotu zamówienia znajduje się we wzorze umowy, stanowiącym załącznik nr 5 do SIWZ. Wyświetlenie zamówienia »