Dostawa mikroskopu konfokalnego do badań nanomateriałów w polu magnetycznym 9T
Przedmiotem zamówienia jest dostawa i instalacja nowego kriostatu z insertem temperaturowym i magnesem 9T oraz z układem mikroskopu konfokalnego pracującego w niskich temperaturach i w polach magnetycznych.
A) Kriostat z magnesem nadprzewodzącym do 9T z i insertem umożliwiającym regulację temperatury próbki (VTI) wkładanym od góry.
— kriostat helowy z próbką ładowaną od góry. Kriostat o objętości rezerwuaru ciekłego helu 50l z płaszczem helowym,
— insert do pomiarów zmienno temperaturowych (VTI) z kontrolerem temperatury dostosowanym do kriostatu ładowanego od góry, o średnicy wewnętrznej 2 cali. Zakres kontroli temperatury: najniższa nie większa niż 1,8K, najwyższa nie mniejsza niż 300K; temperatura regulowana w sposób ciągły do najniższej do najwyższej ze stabilnością nie gorszą niż 0,05 K,
— magnes nadprzewodzący z gwarantowanym polem 9T w temperaturze 4,2K, odpowiedni do insertu do pomiarów zmienno temperaturowych (VTI), z możliwością zapętlenia pola magnetycznego, z obwodem ochronnym oporowym/diodowym, możliwością monitoringu spadku napięcia w magnesie podczas zmiany pola, jednorodnością pola 1 % w sferze 10mm,
— niskoszumny zasilacz bipolarny nadprzewodzącego magnesu, z prądem co najmniej 60A,
— system izolacji antywibracyjnej dla kriostatu,
— giętki transfer helowy,
— miernik poziomu ciekłego helu,
— czas chłodzenia próbki od temperatury 300K do 4K mniejszy niż 1 godzina,
— odparowanie ciekłego helu przy braku prądu w przewodach i braku przepływu helu przez przestrzeń próbki co najwyżej 0,35l/h.
B) Układ mikroskopu konfokalnego pracującego w niskich temperaturach i wysokich polach magnetycznych wraz ze wszystkimi składnikami niezbędnymi do działania
Wymaga się żeby były spełnione następujące warunki. Układ ma zawierać wymienione części.
— układ mikroskopu konfokalnego powinien pasować do kriostatu opisanego w punkcie a) zatem musi pozwalać na pracę w środowisku niskich temperatur od 1,8 K do 300 K i wysokich pól magnetycznych do 9t,
— układ powinien być zdolny do pomiarów w szerokim zakresie widmowym; preferowana jest optyka wiązki swobodnej; układ powinien umożliwiać integrację z dodatkowymi elementami optycznymi takimi jak polaryzatory, płytki falowe i filtry; porty optyczne pobudzania i zbierania światła powinny być w pełni regulowane w płaszczyźnie x,y i z, pobudzanie i zbieranie światła powinny mieć złącza światłowodowe fc/apc dla światłowodów jednomodowych,
— sterowanie temperaturą próbki powinno być realizowane przez wymianę ciepła z atmosferą helową,
— pozycjonowanie próbki powinny być wykonywane przez ortogonalny system przesuwów; wstępne pozycjonowanie w zakresie 5 x 5 x 5 mm³ w pełnym zakresie temperatur; zakres skanowania w zakresie 50 x 50 μm² w 300 K, 30 x 30 μm² w 4 K,
— obiektywy powinny pracować w niskiej temperaturze (4k), odległość robocza 1,76 mm lub większa, apertura numeryczna 0,55 lub lepsza, wielkość plamki w ognisku ograniczona dyfrakcyjnie,
— Układ powinien umożliwiać łatwą modernizację na potrzeby innych technik mikroskopowych takich jak mikroskopia sił atomowych (AFM), mikroskopia sił magnetycznych (MFM) albo mikroskopia bliskiego pola (SNOM) itp.
Wszystkie pomiary powinny być kontrolowane przez kontroler mikroskopu skaningowego SPM, który spełnia następującą rolę:
a) Cyfrowa pętla synchronizacji fazy (PLL) z demodulatorem opartym na woltomierzu fazoczułym typu lock-in wysokiej częstości oraz dwiema pętlami sprzężenia zwrotnego PI (proporcjonalno-całkującego) (amplituda oscylacji/przesunięcie rezonansu);
b) Przetwornik cyfrowo-analogowy (DAC/ADC): 6 wejść ADC z 400 kS/s, 18 bitowe, 2 wejścia HF ADC z 50MS/s. 16 bitowe, 4 wyjścia DAC z 200 kS/s, 16 bitowe, z kompensacją offsetu i próbkowaniem nadmiarowym, analogową modulacją sygnałów wejściowych dla najważniejszych kanałów;
c) Elektroniczna kontrola dobroci Q: naturalna dobroć Q każdego wykorzystanego systemu dźwigni może być zmieniana o co najmniej rząd wielkości (więcej lub mniej);
d) Kontroler-z (głębi): cyfrowy algorytm PI (o szerokości pasma 50kHz), 18 bitowy przetwornik DAC (o rozdzielczości 4pm z zakresie skanu 1 μm), z możliwością dostosowania do większej rozdzielczości; umożliwiający wybranie dowolnego kanału sygnału jako wejścia kontrolnego, ustawienie dostrojenia modulacji PI z możliwością inwersji wzmocnienia pętli sprzężenia zwrotnego i zmianą polarności wyjścia;
e) Układ skanujący – umożliwiający sprzętowy obrót pola widzenia, sprzętową kompensację nachylenia i dryfu;
f) Pełne sterownie programowe z interfejsem LabView;
g) Tryby pomiarowe: CFM (mikroskopii konfokalnej), STM (mikroskopii tunelowej, ze stałą wysokościa labo stałym prądem), AFM (mikroskopii sił atomowych, z trybem kontaktowym, modulacją amplitudy lub częstości, cyfrową pętlą synchronizacji PLL, sondą Kelwina, skaningową mikroskopią bramkującą SGM, przewodzącym ostrzem AFM, mikroskopem sił atomowych mierzącym własności piezoelektryczne), MFM (mikroskopem sił magnetycznych (z trybem stałej wysokości i trybem podwójnego skanowania);
h) Przetwarzanie danych – szybka transformata Fouriera FFT w czasie rzeczywistym, odfiltrowywanie tła, możliwość globalnego zrzutu danych itp.;
i) Sprzętowy obrót: analogowy podzielnik i sumator napięć pomiędzy x i y, który umożliwia niewielkie obroty obszaru skanu bez wprowadzania zakłóceń.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2011-03-14.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2011-01-31.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2011-01-31
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2011-04-15
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|