Skaningowy mikroskop bliskich oddziaływań AFM/STM
Dostawa, instalacja, uruchomienie, przeprowadzenie testu obrazowania powierzchni atomowo gładkiej (HOPG, mika) oraz dwuetapowe szkolenie w zakresie obsługi mikroskopu i oprogramowania, fabrycznie nowego skaningowego mikroskopu bliskich oddziaływań AFM/STM pracującego w warunkach kontrolowanego środowiska gazu lub cieczy o parametrach technicznych wymienionych w specyfikacji istotnych warunków zamówienia.
Termin
Termin składania ofert wynosił 2013-05-10.
Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2013-03-29.
Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?
Co?
Historia zamówień
| Data |
Dokument |
| 2013-03-29
|
Ogłoszenie o zamówieniu
|
| 2013-05-21
|
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
|