Opis zamówienia
1 Skaningowy mikroskop elektronowy.
1.1 Mikroskop wyposażony w działo elektronowe z emisją elektronów.
1.2 Obligatoryjny (maksymalny) dopuszczalny przez Zamawiającego czas potrzebny na uzyskanie obrazu elektronicznego liczony od momentu włożenia preparatu do komory to 5 minut.
1.3 Obligatoryjna (maksymalna) dopuszczalna przez Zamawiającego waga urządzenia to 300 kg.
1.4 System musi zawierać wszystkie niezbędne połączenia i elementy gwarantujące jego pełną funkcjonalność.
1.5 System musi być wyposażony w co najmniej jeden port USB.
1.6 Mikroskop musi być wyposażony w detektor do bezpośredniej detekcji elektronów wstecznie rozproszonych (BSE).
1.7 Mikroskop musi być wyposażony w detektor elektronów wtórnych (SE).
1.8 Mikroskop musi umożliwiać pracę przy napięciu przyspieszającym w zakresie przynajmniej do 20 kV z krokiem regulacji nie większym niż 1 kV.
1.9 Zdolność rozdzielcza mikroskopu dla elektronów wstecznie rozproszonych, przy napięciu przyspieszającym 10 kV nie może być gorsza niż 10 nm, dla elektronów wtórnych nie gorsza niż 8 nm.
1.10 System mikroskopu musi umożliwiać cyfrowy zapis obrazów mikroskopowych z rozdzielczością nie gorszą niż 2048 x 2048 pikseli.
1.11 Mikroskop musi umożliwiać uzyskiwanie obrazów elektronowych w powiększeniach do minimum 150 000x.
1.12 Mikroskop musi być wyposażony w stolik z automatyką w osiach X i Y, sterowane powinno odbywać się z głównego interfejsu graficznego użytkownika mikroskopu.
1.13 System, musi zawierać Kamerę CCD do obserwacji wnętrza komory mikroskopu.
1.14 Etykiety otrzymanych zdjęć muszą zawierać co najmniej: podziałkę w μm, powiększenie, rodzaj sygnału.
1.15 Zapis obrazów powinien obejmować formaty JPG, BMP, TIF.
1.16 System sterowania mikroskopem musi zawierać funkcje automatycznego ustawiania ostrości, jasności, kontrastu, korekcji astygmatyzmu.
1.17 Mikroskop musi zawierać wbudowane oprogramowanie sterujące oraz aplikacje specjalistyczne umożliwiające pomiary i przetwarzanie otrzymanych obrazów, w tym w szczególności analizy rozmiaru i kształtu cząstek, obliczania średnich, median, obwodu, średnicy, generowania histogramów.
1.18 Mikroskop musi mieć możliwość dodania w przyszłości dodatkowych modułów oprogramowania umożliwiających m.in.: tworzenie obrazów trójwymiarowych.
1.19 Mikroskop musi umożliwiać badanie próbek przewodzących oraz nieprzewodzących bez konieczności napylania.
1.20 Mikroskop musi umożliwiać badanie preparatów w niskiej i wysokiej próżni.
1.21 Regulowana wartość ciśnienia w trybie niskiej próżni w zakresie od nie więcej niż 10 Pa do co najmniej 60 Pa.
1.22 Rozmiar próbek w komorze mikroskopu ma wynosić: średnica co najmniej 20 mm, wysokość co najmniej 20 mm.
2 Detektor EDS
2.1 Mikroskop musi być wyposażony w system mikroanalizy rentgenowskiej typu EDS do analizy składu chemicznego badanych powierzchni w pełni przystosowany do współpracy z oferowanym mikroskopem SEM
2.2 System musi być wyposażony w specjalistyczne oprogramowanie do analizy EDS w postaci analizy punktowej, średniej z obszaru, mapowania oraz analizy liniowej. Oprogramowanie musi umożliwiać automatyczną identyfikację piku, wyniki powinny być prezentowane w postaci procentowego udziału (wagowego lub atomowego)
2.3 Oprogramowanie EDS musi umożliwić eksport wszystkich danych do popularnych formatów takich jak doc., xls. itp.
2.4 Detektor EDS musi być wykonany w technologii SDD (Silicon Drit Detector), nie wymagający chłodzenia ciekłym azotem
2.5 Rozdzielczość detektora ma być nie gorsza niż 132 Ev dla linii MnK-alfa
2.6 Pole powierzchni detektora ma być nie mniejsze niż 25 mm2
2.7 Analizowane pierwiastki mają obejmować zakres co najmniej od C do U
2.8 EDS ma być w pełni zintegrowany z mikroskopem i pracować przy użyciu jednej klawiatury i myszy dla SEM i EDS
3 Stacjonarna jednostka sterująca (Szczegółowy opis w zał. nr 1 do niniejszej SIWZ).
4 Części eksploatacyjne (Szczegółowy opis w zał. nr 1 do niniejszej SIWZ).
5 Dodatkowe wymagania (Szczegółowy opis w zał. nr 1 do niniejszej SIWZ).