Sprzedaż i dostarczenie kompletnego systemu pomiarowego służącego do charakteryzacji warstw epitaksjalnych oraz warunków termicznych w reaktorze w trakcie procesu osadzania wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych przy ul. Wólczyńskiej 133 w Warszawie

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Przedmiotem niniejszego zamówienia jest dostawa (rozumiana jako sprzedaż, dostarczenie, montaż w siedzibie Zamawiającego oraz przeszkolenie personelu badawczego) kompletnego systemu pomiarowego służącego do charakteryzacji warstw epitaksjalnych oraz warunków termicznych w reaktorze w trakcie procesu osadzania (nazywany dalej „systemem in-situ”) w urządzeniu AIX-200/4RF-S (#200010) z reaktorem poziomym (1x2” podłoże), służącym do epitaksji materiałów III-N metodą MOVPE oraz pozostałych komponentów wchodzących w skład przedmiotu zamówienia, dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych przy ul. Wólczyńskiej 133 w Warszawie. System pomiarowy wraz z wyposażeniem musi spełniać wymagania określone w „Szczegółowej charakterystyce przedmiotu zamówienia” stanowiącej załącznik nr 1 do specyfikacji.

Termin
Termin składania ofert wynosił 2011-02-24. Zamówienie zostało opublikowane na stronie 2011-02-15.

Dostawcy
Następujący dostawcy są wymienieni w decyzjach o przyznaniu zamówienia lub innych dokumentach dotyczących zamówień:
Kto?

Co?

Historia zamówień
Data Dokument
2011-02-15 Ogłoszenie o zamówieniu
2011-11-25 Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia
Ogłoszenie o zamówieniu (2011-02-15)
Obiekt
Zakres zamówienia
Tytuł: Systemy rejestrujące i urządzenia badawcze
Wielkość lub zakres:
“Dostawa kompletnego systemu pomiarowego służącego do charakteryzacji warstw epitaksjalnych oraz warunków termicznych w reaktorze w trakcie procesu osadzania...”    Pokaż więcej
Całkowita wartość zamówienia: 300 000,00 💰
Metadane ogłoszenia
Język oryginału: polski 🗣️
Typ dokumentu: Ogłoszenie o zamówieniu
Rodzaj zamówienia: Dostawy
Regulacja: Unia Europejska
Wspólny słownik zamówień (CPV)
Kod: Systemy rejestrujące i urządzenia badawcze 📦

Procedura
Typ procedury: Procedura otwarta
Typ oferty: Wniosek dotyczący wszystkich partii
Kryteria przyznawania nagród
Oferta najbardziej korzystna ekonomicznie

Instytucja zamawiająca
Tożsamość
Kraj: Polska 🇵🇱
Typ instytucji zamawiającej: Inne
Adres pocztowy: Wólczyńska 133
Kod pocztowy: 01-919
Miasto pocztowe: Warszawa
Kontakt
Adres internetowy: http://www.itme.edu.pl 🌏
E-mail: slawomir.strelau@itme.edu.pl 📧
Telefon: +48 228353536 📞
Fax: +48 228349220 📠

Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2011-02-15 📅
Termin składania ofert: 2011-02-24 📅
Data publikacji: 2011-02-17 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2011/S 33-054561
Numer Dz.U.-S: 33
Źródło: OJS 2011/S 033-054561 (2011-02-15)
Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia (2011-11-25)
Obiekt
Zakres zamówienia
Całkowita wartość zamówienia: 78 180,00 💰
Metadane ogłoszenia
Typ dokumentu: Ogłoszenie o udzieleniu zamówienia

Procedura
Typ oferty: Nie dotyczy

Instytucja zamawiająca
Tożsamość
Nazwa instytucji zamawiającej: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych

Odniesienie
Daty
Data wysłania: 2011-11-25 📅
Data publikacji: 2011-11-29 📅
Identyfikatory
Numer ogłoszenia: 2011/S 229-371068
Odnosi się do ogłoszenia: 2011/S 33-054561
Numer Dz.U.-S: 229
Źródło: OJS 2011/S 229-371068 (2011-11-25)